[发明专利]准直测量仪器一体化校零及对准装置在审
申请号: | 201611090022.7 | 申请日: | 2016-11-30 |
公开(公告)号: | CN108132027A | 公开(公告)日: | 2018-06-08 |
发明(设计)人: | 赵天承;刘凯;王锴磊;王占涛;汪涛;姜云翔;高秋娟;王强 | 申请(专利权)人: | 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院 |
主分类号: | G01B11/27 | 分类号: | G01B11/27 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 任超 |
地址: | 100076 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 直线导轨 反光 液面 双层钢架 位置传感器 测量仪器 对准装置 自准直仪 激光器 折光镜 校零 准直 电机 一体化 控制盒 左端 下层 上层 | ||
准直测量仪器一体化校零及对准装置,包括自准直仪1、折光镜2、反光液面3、位置传感器4、控制盒5、激光器6、直线导轨8、电机9、双层钢架10。其中自准直仪1与折光镜2位于双层钢架10的上层,在双层钢架10的下层安装有直线导轨8,在直线导轨8的左端为电机9,直线导轨8的右端为反光液面3,反光液面3的下方为激光器6,在反光液面3上还安装有位置传感器4。
技术领域
该技术属于校零及对准领域,具体涉及一种准直测量仪器一体化校零及对准装置。
背景技术
在许多航天器上,载体初始坐标系的建立是以基准镜作为观测目标的,因而对基准镜调平精度的检测是很重要的测试指标。原有的测试过程主要由人工操作完成,过程繁琐,人为影响大,不智能,可操作性差。
故需要一种准直测量仪器一体化校零及对准装置来解决以上问题。在这个过程中零位的基准采集和测试仪器光轴与基准镜测量平面的的对准是一个需要解决的重要方面。
发明内容
本发明的目的在于:提供一种准直测量仪器一体化校零及对准装置,解决了人工操作繁琐、复杂的问题。
本发明的技术方案如下:一种准直测量仪器一体化校零及对准装置,包括自准直仪、折光镜、反光液面、位置传感器、控制盒、激光器、直线导轨、电机、双层钢架;其中自准直仪与折光镜位于双层钢架的上层,在双层钢架的下层安装有直线导轨,在直线导轨的左端为电机,直线导轨的右端为反光液面,反光液面的下方为激光器,在反光液面上还安装有位置传感器。
还包括控制盒,控制盒控制电机。
还包括被测基准镜,装置使用时,将反光液面移动到位置传感器的触发点,整体移动本装置,使激光器光束打在被测基准镜上。
本发明的显著效果在于:操作过程简单,结构新颖,集成化的解决了现有基准镜调平精度测试过程中校零和对准的的繁琐、复杂、操作不方便的问题。基准的采集和小棱镜测量面的对准准确可靠,同时维修方便。
附图说明
图1为本发明所述的准直测量仪器一体化校零及对准装置示意图
图中:1自准直仪、2折光镜、3反光液面、4位置传感器、5控制盒、6激光器、7被测基准镜、8直线导轨、9电机、10双层钢架。
具体实施方式
下面结合附图及具体实施例对本发明作进一步详细说明。
准直测量仪器一体化校零及对准装置,包括自准直仪1、折光镜2、反光液面3、位置传感器4、控制盒5、激光器6、直线导轨8、电机9、双层钢架10。
其中自准直仪1与折光镜2位于双层钢架10的上层,在双层钢架10的下层安装有直线导轨8,在直线导轨8的左端为电机9,直线导轨8的右端为反光液面3,反光液面3的下方为激光器6,在反光液面3上还安装有位置传感器4。
控制盒5控制电机9。
装置使用时,首先将反光液面3移动到位置传感器4的触发点,整体移动本装置,使激光器6光束打在被测基准镜7上,然后采集基准零位,校零完成后在电机9驱动下撤收反光液面3离开自准直仪1的视场范围,
激光器6光轴位于反光液面3的下方,可代表测量光轴位置。降低了测量时找像的难度。
反光液面3在重力的作用下自动与大地水平面平行,可以代表调平精度的检测零位。激光器6位于反光液面3的下方,由位置传感器4精确限定其线位移。这样整个装置在运动到位后,可以由自准直仪1采集反光液面3的数值,进行零位校正;同时激光器6发出可见的、与自准直仪1同轴的激光束,进行与被测基准镜7对准,这样就完成了一体化的校零与对准。
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