[发明专利]一种光功率计综合测试方法在审
申请号: | 201611079293.2 | 申请日: | 2016-11-30 |
公开(公告)号: | CN106788705A | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 罗江君 | 申请(专利权)人: | 罗江君 |
主分类号: | H04B10/079 | 分类号: | H04B10/079 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518102 广东省深圳市宝安*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 功率 综合测试 方法 | ||
1.一种光功率计综合测试方法,其特征在于:其平台主要采用多路光分器、波分复用器、光功率计、光衰减器,主要应用于校准和测试光网络单元相关的发射和接收;发射部分的校准和测试由光网络单元设备本身发射1310nm波长的光经过光隔离器到达1310nm光功率计,并进行测量。
2.如权利要求1所述的光功率计综合测试方法,其特征在于,所述接收部分的校准和测试由外部BERT提供1490nm波长的光经过光衰减器及光隔离器后以1:9的比例将1/10的光进入1490nm光功率计进行光功率大小测试,9/10的光进入光网络单元设备,其中光衰减器的作用是控制调节光网络单元时时需要的接收光功率大小。
3.如权利要求2所述的光功率计综合测试方法,其特征在于,基于本发明方法的系统平台基于单片机进行控制多通道所有光功率计和衰减器的大小和数据的读取,外置PC通过两个串口与单片机进行通信,进而控制平台设备,两个串口分别控制8个光功率计和4个衰减器,其中8个光功率计分为4个1310nm光功率计和4个1490nm光功率计,4个衰减器分别为1490nm衰减器,PC与内部系统的通信建立在双方约定的自定义通信协议,包含发送和接收数据的格式和解析规则。
4.如权利要求3所述的光功率计综合测试方法,其特征在于,所述基于本发明方法的系统包含接收光路部分和发射光路部分;其中接收光路部分包含BERT、程控衰减、光分和光功率计1,发射光路部分包含光功率计2;其中波分复用器作为连接接收光路、发射光路以及被测设备之间光路传输和1310及1490波长光隔离的介质,在传输过程将被测设备发射的1310波长的光转发到光功率计2,将BERT发射的1490波长的光传送给被测设备,两种不同波长的光在发射光路和接收光路相互之间不透传,使接收光路和发射光路对被测设备进行单独通信。
5.如权利要求4所述的光功率计综合测试方法,其特征在于, 所述接收光路中BERT作为光源,向被测设备发出1490波长并加载prbs7、 prbs23或prbs31码型的连续光,中间经过程控衰减调节线路光衰,对输入给被测设备的光功率的大小进行控制;经过一分二,比例为1:9的光分路器,将1/10的光传输给光功率计1,用来监控线路光功率的大小;将9/10的光传输经过波分复用器最终传输给被测设备。
6.如权利要求5所述的光功率计综合测试方法,其特征在于,在所述发射光路中被测设备作为光源,其发射1310波长的连续光,经过波分复用器的分离,最终由所述光功率计2接收。
7.如权利要求4所述的光功率计综合测试方法,其特征在于,所述基于本发明方法的系统包括光衰减器控制部分,光衰减器采用4 路光衰减器,光衰减器固定在盘纤盒上;通过连接线和印刷电路板连接;单片机进行控制,通过COM1 进行衰减量的调节;衰减范围0dB~45dB;衰减器设置精度0.1dBm;增加数据存储芯片提升可变光衰减器器件的设置精度。
8.如权利要求7所述的光功率计综合测试方法,其特征在于,所述光衰减器控制部分的光路连接为:4个光纤盘纤阻塞分别固定在4个盘纤盒上;通过FC/UPC 和印刷电路板上的探测器连接;通过SIP2.54 连接线和印刷电路板上的可变光衰减器驱动电路连接。
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