[发明专利]测定装置、校准液或内部液体的补充方法有效
申请号: | 201611061857.X | 申请日: | 2016-11-25 |
公开(公告)号: | CN106908494B | 公开(公告)日: | 2021-04-13 |
发明(设计)人: | 宫村和宏;中井阳子 | 申请(专利权)人: | 株式会社堀场制作所 |
主分类号: | G01N27/30 | 分类号: | G01N27/30;G01N27/401 |
代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 周善来;李雪春 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测定 装置 校准 内部 液体 补充 方法 | ||
本发明提供测定装置、校准液或内部液体的结晶化抑制和补充方法,即使处在规定时间以上的待机状态下,也能够抑制来自内部液体或校准液的结晶析出导致的流道堵塞。测定装置(100)具备测定电极(21)和参比电极(22),根据所述测定电极(21)和所述参比电极(22)之间产生的电位差测定试样的特性值,测定装置(100)能够处于测定所述试样的特性值的测定状态和不进行测定的待机状态的两种状态,并具备补充所述校准液或用于参比电极的内部液体的补充机构(8),所述补充机构(8)在所述待机状态下连续性或间歇地补充所述校准液或所述内部液体。
技术领域
本发明涉及例如用于pH测定装置等的测定装置。
背景技术
例如,已为公众所知的有,在通过玻璃电极和参比电极对储存在容器中的试样的pH进行测定的测定装置中,在测定试样的pH的测定状态、使用pH已知的校准液对玻璃电极和参比电极之间产生的电位差与测定值的关系进行修正的校准状态下,由于参比电极的内部液体从设置于参比电极的液接部一点一点地流出而减少,因此为了补充内部液体,从补充口适当补充内部液体。(专利文献1)
例如,在通过取样机构等连续地取入试样并测定其pH的测定装置的情况下,参比电极的内部液体通过液接部与不断流过来的试样接触并发生扩散,参比电极的内部液体变稀薄或者内部液体从液接部流出,因此在测定状态下需要连续或定期地补充内部液体。
此外,为了连续地持续进行准确的测定,不仅在测定开始时,而且每隔规定的期间都需要使用校准液对测定值进行校准,因此需要在连续测定试样期间定期送入校准液。
另一方面,认为在不进行测定或校准的待机状态下,只要在下次的测定开始时补充内部液体就足够了,不担心内部液体量的变化。
此外,例如在取得微量的试样并连续地测定其pH的测定装置中,特别是在待机状态下试样的流动停止,在流道内仅残留微量的试样,所以相比于试样总是流动的测定状态,认为待机状态下不易发生内部液体的扩散。
基于这些理由,在以往的连续测定型的测定装置中,未考虑在待机状态下补充内部液体。
此外,关于校准液,由于在不进行校准的待机状态下不被使用,所以以往不考虑在待机状态下补充校准液。
可是本发明人首次发现了,如果将所述连续测定型的测定装置在待机状态下放置规定时间以上,则存在下述问题:在用于在测定状态或校准状态下补充内部液体或校准液而设置的流道内发生校准液或内部液体的蒸发,结晶从所述的内部液体或校准液析出并堵塞流道。
现有技术
专利文献1:日本专利公开公报特开2004-212174号
发明内容
本发明是鉴于所述的问题而做出的发明,本发明的目的是提供即使在待机状态下放置规定时间以上,也能够抑制由于从内部液体或校准液析出结晶而导致流道堵塞的测定装置、校准液或内部液体的结晶化抑制和补充方法。
即,本发明提供一种测定装置,其具备测定电极和参比电极,根据所述测定电极和所述参比电极之间产生的电位差,测定试样的特性值,所述测定装置的特征在于,所述测定装置能够处于测定所述试样的特性值的测定状态和不进行测定的待机状态的两种状态,所述测定装置还具备补充机构,所述补充机构通过在所述待机状态下连续或间歇地补充校准液或内部液体来抑制所述校准液或所述内部液体的结晶化,能够独立地补充所述校准液和所述内部液体。
按照这样的测定装置,由于即使在所述待机状态下也通过补充机构连续或间歇地补充内部液体或校准液,因此能够抑制内部液体或校准液停留在流道内并结晶化,从而能够抑制流道的堵塞。
可是,在以往的测定装置中,尽管是液密状态但是不是气密性空间的、参比电极内的内部空间,由于在液接部与外部空气接触等理由而存在有即使在待机状态下水分也从内部液体蒸发的可能性。
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