[发明专利]磁共振成像装置、图像处理装置以及图像处理方法有效
申请号: | 201611050613.1 | 申请日: | 2014-07-21 |
公开(公告)号: | CN106772166B | 公开(公告)日: | 2019-07-26 |
发明(设计)人: | 横泽俊;越智久晃;尾藤良孝 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | G01R33/56 | 分类号: | G01R33/56;G01R33/563;A61B5/055;G06T11/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 曾贤伟;范胜杰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁共振 成像 装置 图像 处理 以及 方法 | ||
1.一种磁共振成像装置,其特征在于,具备:
拍摄部,其按照预定的脉冲序列进行测量,重构图像;以及
图像处理部,其对所述重构的图像实施运算处理,得到参数图像,其中,所述参数图像是将平均弥散、平均峰度、轴向的峰度以及周向的峰度中的某一个作为像素值的图像,
所述脉冲序列是施加弥散梯度磁场脉冲的弥散加权拍摄序列,所述弥散梯度磁场脉冲作为倾斜磁场对核磁共振信号附加伴随弥散的信号变化,
所述拍摄部使所述弥散梯度磁场脉冲的施加方向以及b值变化来执行所述脉冲序列,取得多个弥散加权图像,
所述图像处理部具备:
参数推定部,其使用使所述弥散梯度磁场脉冲的施加方向相同,使b值变化来执行所述脉冲序列而得到的多个所述弥散加权图像中关心区域的像素的像素值,针对每个像素推定与弥散相关的参数即弥散参数;
判别部,其判别推定的所述弥散参数是否在预先决定的范围内;
像素值校正部,其对所述判别结果为在所述范围外的所述像素的像素值进行校正;以及
图像生成部,其使用每个像素的所述弥散参数生成所述参数图像,
所述参数推定部通过没有制约条件的最小二乘拟合推定所述弥散参数,并且针对所述判别结果为在所述范围外的所述像素,使用所述校正后的像素值重新推定所述弥散参数,
所述图像生成部,针对校正了像素值的所述像素,使用重新推定的所述弥散参数。
2.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
所述参数推定部在所述弥散参数的推定中使用b值为0的图像。
3.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
所述最小二乘拟合的模型函数是非线性函数。
4.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
所述最小二乘拟合的模型函数是一次函数。
5.根据权利要求3所述的磁共振成像装置,其特征在于,
所述弥散参数是弥散系数以及峰度系数,
所述像素值校正部,通过去除所述参数推定部进行参数的推定时所使用的像素中所述峰度系数为在所述范围外且表示负值的像素来进行所述校正,所述参数推定部使用通过所述像素值校正部去除的像素以外的像素来重新推定所述弥散参数。
6.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
还具备对重新推定的所述弥散参数进行校正的参数校正部,
所述参数推定部通过没有制约条件的最小二乘拟合从所述校正后的像素值重新推定所述弥散参数,
所述判别部判别重新推定的所述弥散参数是否在所述范围内,
当所述判别结果为在所述范围外时,所述参数校正部对重新推定的所述弥散参数进行校正。
7.根据权利要求6所述的磁共振成像装置,其特征在于,
通过所述参数校正部进行的校正,将重新推定的所述弥散参数置换成所述范围内最接近的值。
8.根据权利要求6所述的磁共振成像装置,其特征在于,
通过所述参数校正部进行的校正,以预先决定的校正值对重新推定的所述弥散参数进行校正,
以针对一个像素计算出的所有弥散参数收敛在所述范围内的方式决定所述校正值。
9.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
还具备可靠度运算部,其计算出推定的所述弥散参数中的、被判别为所述范围内的参数的个数,将从计算结果得到的信息作为可靠度显示提示给用户。
10.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
所述弥散参数是弥散系数以及峰度系数。
11.根据权利要求1所述的磁共振成像装置,其特征在于,
所述像素值校正部通过平滑化滤波器进行所述校正。
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