[发明专利]图像定位方法、透镜阵列成像方法及装置有效
申请号: | 201611035519.9 | 申请日: | 2016-11-18 |
公开(公告)号: | CN106791498B | 公开(公告)日: | 2019-11-19 |
发明(设计)人: | 李其昌 | 申请(专利权)人: | 成都微晶景泰科技有限公司 |
主分类号: | H04N5/341 | 分类号: | H04N5/341;H04N9/04;H04N9/64;H04N5/225;G06T3/40;G06T7/30 |
代理公司: | 51242 成都环泰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人: | 李斌<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
地址: | 610072 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 定位 方法 透镜 阵列 成像 装置 | ||
1.一种图像定位方法,用于对一透镜阵列拍摄场景所获得的原始图像中的子图像进行定位,其中,所述透镜阵列包括多个呈阵列排布的子透镜,其特征在于,所述图像定位方法包括以下步骤:
S210获取一通过所述透镜阵列拍摄的参照图像中对应各子透镜的参照子图像;
S220获取对应各子透镜的参照子图像的位置信息;
所述步骤S220具体包括以下步骤:
S221建立对应所述参照图像的平面坐标系,计算所述参照图像在X方向和Y方向上的投影;
S222初步确定所述参照图像中各子图像中心点的X坐标值和Y坐标值;
S223精确计算所述参照图像中各子图像中心点的X坐标精确值和Y坐标精确值;
所述步骤S222包括以下步骤:
S2221依据所述参照图像在X方向上的投影,获得第一投影数列;
S2222采用Kmeans算法对所述第一投影数列进行聚类,初步确定各子图像中心点的X坐标值;
S2223依据所述参照图像在Y方向上的投影,获得第二投影数列;
S2224采用Kmeans算法对所述第二投影数列进行聚类,初步确定各子图像中心点的Y坐标值。
2.如权利要求1所述的图像定位方法,其特征在于,所述步骤S223具体包括以下步骤:
S2231依据各子图像的所述X坐标值与所述Y坐标值,结合所述透镜阵列中各子透镜以等间隔排布,计算各子图像在X方向上的X坐标均值以及在Y方向上的Y坐标均值;
S2232将各子图像上的X坐标值均减去所述X坐标均值,获得一均值为0的第三数列,将各子图像上的Y坐标值减去所述Y坐标均值,获得一个均值为0的第四数列;
S2233依据所述第三数列与第四数列以及透镜阵列的行数和列数,计算任意相邻两行的子图像之间的第一间距和任意相邻两列的子图像之间的第二间距;
S2234基于所述第一间距、所述第二间距、所述X坐标均值及所述Y坐标均值精确计算各子图像的X坐标精确值和Y坐标精确值。
3.一种透镜阵列成像方法,其特征在于,所述透镜阵列成像方法包括以下步骤:
S100对所述透镜阵列拍摄一场景得到的原始图像进行亮度均一化处理,并获取所述原始图像的灰度图像,所述灰度图像中包括多个与各子透镜一一对应的子图像;
S200获取所述灰度图像中各子图像的位置信息;
S300依据各子图像的位置信息,获取任意相邻两个子图像的像圆之间满足预设条件的拼接间距值;
S400依据各子图像的尺寸,提取各子图像的像圆;
S500按照所述拼接间距值,拼接所述像圆生成场景图像,其中,所述步骤S200包括权利要求1至2任一项所述的图像定位方法;
所述步骤S300具体包括:
S310设置所述子图像的像圆直径的初始值;
S320计算任意相邻两个像圆中心之间的位置间距;
S330依据所述位置间距,计算任意相邻两个像圆行中第一行像圆与第二行像圆之间的行拼接间距值,以及任意相邻两个像圆列中第一列像圆与第二列像圆列之间的列拼接间距值;
S350将所获取的各相邻两行之间的行拼接间距加权计算行拼接间距的行平均值,将所获取的各相邻两列之间的列拼接间距加权计算列拼接间距的列平均值;
S360分别判断所述行平均值和所述列平均值是否在预设范围内,若在所述预设范围内则进入步骤S340,若不在所述预设范围内,则重新计算所述子图像的初始直径,直至新获得的行平均值与列平均值均在所述预设范围内;
S340依据所述行拼接间距值与所述列拼接间距值,获得任意相邻两个子图像的像圆之间满足预设条件的拼接间距值。
4.如权利要求3所述的透镜阵列成像方法,其特征在于,所述步骤S100具体包括:
S110控制所述透镜阵列对光源成像,获取参照图像;
S120控制所述透镜阵列对所述场景成像,得到所述场景的原始图像;
S130依据所述参照图像,对所述原始图像进行亮度均一化处理,得到亮度均一的中间图像;
S140获取所述中间图像的灰度图像。
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