[发明专利]产生气体分析装置的校正方法以及产生气体分析装置

权利要求书

1.一种产生气体分析装置的校正方法，所述产生气体分析装置具备：

加热部，将试料加热而产生气体成分；

离子源，将在该加热部生成的前述气体成分离子化而生成离子；

质量分析计，对前述离子进行质量分析而检测前述气体成分；

所述产生气体分析装置的校正方法的特征在于，

使用作为测定对象而包含前述气体成分的标准试料，

（1）进行校正使得关于前述标准试料的前述气体成分获得的质谱的与质荷比m/z对应的谱位置与基准谱位置相符，

（2）在前述（1）的校正之后，由色谱的面积S与基准面积Ss计算测定实际的前述试料的前述气体成分的色谱的面积时的灵敏度补正系数Cs=Ss/S，所述色谱的面积S表示关于前述标准试料的前述气体成分获得的相对于保持时间的强度，利用该灵敏度补正系数Cs对前述实际的前述试料的前述气体成分的色谱的面积进行补正，

（3）由前述色谱的给出最大峰值的时间t与基准时间ts对测定实际的前述试料的前述气体成分时的前述加热部内的前述试料的加热速度进行补正的加热补正系数H=t/ts进行计算，利用该加热补正系数H对测定前述实际的前述试料的前述气体成分时的前述加热部内部的前述试料的加热速度进行补正。

2.如权利要求1所述的产生气体分析装置的校正方法，其特征在于，

前述测定对象包含多种前述气体成分，

计算前述加热补正系数H=∑ai×ti/tsi，

其中，i是表示各气体成分i的自然数，ai是各气体成分i的已知的加热灵敏度系数，ti是各气体成分i的色谱的给出最大峰值的时间，tsi是各气体成分i的色谱的给出最大峰值的基准时间。

3.一种产生气体分析装置，具备：

加热部，将试料加热而产生气体成分；

离子源，将在该加热部生成的前述气体成分离子化而生成离子；

质量分析计，对前述离子进行质量分析而检测前述气体成分；

其特征在于，

还具有校正处理部，

前述校正处理部具有计算机，

在使用作为测定对象而包含前述气体成分的标准试料时，

（1）进行校正使得关于前述标准试料的前述气体成分获得的质谱的与质荷比m/z对应的谱位置与基准谱位置相符，

（2）在前述（1）的校正之后，由色谱的面积S与基准面积Ss对测定实际的前述试料的前述气体成分的色谱的面积Sr时的灵敏度补正系数Cs=Ss/S进行计算，所述色谱的面积S表示关于前述标准试料的前述气体成分获得的相对于保持时间的强度，所述灵敏度补正系数Cs对前述实际的前述试料的前述气体成分的色谱的面积Sr进行补正，

（3）从前述色谱的给出最大峰值的时间t与基准时间ts计算对测定实际的前述试料的前述气体成分时的前述加热部内的前述试料的加热速度Vr进行补正的加热补正系数H=t/ts，

上述计算都由计算机进行，

对前述实际的前述试料的前述气体成分的色谱的面积Sr以及前述测定前述实际的前述试料的前述气体成分时的前述加热部内部的前述试料的加热速度Vr进行补正。