[发明专利]用于运行电子装置的方法和电子装置

权利要求书

1.用于运行电子装置（100）的方法，所述电子装置具有至少一个功能单元（110），所述功能单元的运行通过一个或者多个状态变量来表征，其特征在于以下步骤：在能够预先给定的不同的时间点（t1、t2、t3）形成（200）能够预先给定的数量的状态矢量（zv1、zv2、zv3），其中每个状态矢量（zv1、zv2、zv3）包含所述功能单元（110）和/或所述装置（100）的一个或者多个状态变量；根据所述能够预先给定的数量的状态矢量（zv1、zv2、zv3）中的至少一个状态矢量来获知（210）所述装置（100）和/或所述装置的功能单元（110）的运行是否正常，其中如果在所述获知（210）的步骤中推断出：所述装置（100）和/或所述装置的功能单元（110）受到旁路攻击，那么就在接下来的步骤（220）中引入应对措施，所述应对措施包括下述步骤中的至少一个步骤：

a. 将非正常的运行用信号传递给所述装置（100）的用户和/或传递给相对于所述装置（100）布置在外部的单元，

b. 记录所述功能单元（110）和/或所述装置（100）的一个或者多个状态变量，

c. 修正和/或清除存储在所述功能单元（110）和/或所述装置（100）中的数据，

d. 控制和/或影响所述功能单元（110）的运行。

2.按权利要求1所述的方法，其中所述获知（210）的步骤包括以下步骤：将单个状态矢量（zv1）与至少一个能够预先给定的参考状态矢量进行比较。

3.按前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述形成（200）的步骤包括：在相应的能够预先给定的不同的时间点（t1、t2、t3）形成大于一个的状态矢量（zv1、zv2、zv3），其中获得了状态序列（C）。

4.按权利要求3所述的方法，其中所述获知（210）的步骤包括以下步骤：将所述状态序列（C）与至少一个能够预先给定的参考状态序列进行比较。

5.按权利要求2所述的方法，其中如果将所述单个状态矢量与所述至少一个能够预先给定的参考状态矢量进行比较得出：所述单个状态矢量最大化地偏离了所述参考状态矢量一个能够预先给定的大小，那么就推断出所述装置（100）运行正常，其中如果将所述单个状态矢量与所述至少一个能够预先给定的参考状态矢量进行比较得出：所述单个状态矢量与所述参考状态矢量相同，那么就推断出所述装置（100）运行正常。

6.按权利要求4所述的方法，其中如果将所述状态序列（C）与所述至少一个能够预先给定的参考状态序列进行比较得出：所述状态序列（C）最大化地偏离了所述参考状态序列一个能够预先给定的大小，那么就推断出所述装置（100）运行正常，其中如果将所述状态序列（C）与所述至少一个能够预先给定的参考状态序列进行比较得出：所述状态序列（C）与所述参考状态序列相同，那么就推断出所述装置（100）运行正常。

7.按权利要求1所述的方法，其中，所述应对措施包括清除所存储的机密数据和/或伪造所存储的机密数据。

8.按权利要求1所述的方法，其中，所述应对措施包括解除和/或中断所述功能单元（110）的功能。