[发明专利]基于耦合装置的传导敏感度测试方法有效

专利信息
申请号: 201611004998.8 申请日: 2016-11-15
公开(公告)号: CN106569074B 公开(公告)日: 2017-10-27
发明(设计)人: 魏光辉;卢新福;潘晓东;万浩江 申请(专利权)人: 中国人民解放军军械工程学院
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所13120 代理人: 王占华
地址: 050003 *** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 基于 耦合 装置 传导 敏感度 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种基于耦合装置的传导敏感度测试方法,其特征在于包括如下步骤:

1)使用耦合装置构建传导敏感度测试系统,将整个系统除被测试件EUT和注入源外的部分视作一个三端口网络,其中耦合装置的注入端口、监测端口和输出端口分别视为1#~3#端口;

2)当被测试件EUT工作在线性区时,通过耦合装置监测端电压Um、三端口的网络参数S以及被测试件EUT输入端口的反射系数ΓEUT获取被测试件EUT输入端口电流IEUT,通过被测试件EUT出现干扰或损伤效应时对应输入端口的电流IEUT判断被测试件EUT的传导敏感度;

3)当被测试件EUT工作在线性或非线性区时,通过获取被测试件EUT输入端口的入射波电流作为判断EUT是否出现干扰或损伤效应的参量。

2.如权利要求1所述的基于耦合装置的传导敏感度测试方法,其特征在于所述的步骤2)具体通过以下方法获得:

1#~3#端口的入射波分别为

a1=US2Z0a2=ΓEUTb2a3=0---(1)]]>

其中US为注入源电压,ΓEUT为EUT输入端口的反射系数,b2为2#端口的反射波,Z0为各端口的输入阻抗;根据S参数性质,可得2#和3#端口的反射波分别为

b2=S21a1+S22a2=S21US2(1-S22ΓEUT)Z0b3=S31a1+S32a2=[S32S21ΓEUT+S31(1-S22ΓEUT)]US2Z0(1-S22ΓEUT)---(2)]]>

其中,S21、S22、S31和S32为上述三端口网络的S参数;根据各端口的入射波和反射波,可得监测端电压Um和EUT输入端口电流IEUT分别为

Um=Z0b0IEUT=b2-a2Z0=(1-ΓEUT)b2Z0---(3)]]>

根据式(1)至(3),可得到Um和IEUT的关系如下

IEUT=[(1-ΓEUT)S21]UmZ0[S31(1-S22ΓEUT)+ΓEUTS32S21]---(4)]]>

因此,通过测试三端口网络的S参数、Um和ΓEUT可以计算出被测试件EUT输入端口电流IEUT

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