[发明专利]荧光免疫层析测试数据处理方法有效
申请号: | 201611000283.5 | 申请日: | 2016-11-14 |
公开(公告)号: | CN107389626B | 公开(公告)日: | 2020-01-17 |
发明(设计)人: | 倪晓涛;李欢;王佩瑞;陆亮;肖琨;周亦迪;曹秋岑 | 申请(专利权)人: | 上海艾瑞德生物科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 31266 上海一平知识产权代理有限公司 | 代理人: | 徐嘉慧;陆凤 |
地址: | 201114 上海市闵*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 荧光 免疫 层析 测试 数据处理 方法 | ||
本发明提供了一种处理荧光免疫层析测试数据的方法,包括提供一免疫层析试纸条、一激发光源和一受激光读取装置,通过所述控制装置,控制光斑从而使得所述光斑沿所述层析试纸条的长度方向进行移动,将对应于有效光斑的各信号强度进行数据处理,从而获得免疫层析试纸的检测结果。本发明方法排除了质控线上引入的批次间样品损失量、批次间加样量差异、抗体标记过程中的部分干扰因素等,使得最终的数据结果具有合理的物理意义和更高的灵敏度。
技术领域
本发明属于检测领域,具体地说,本发明涉及一种荧光免疫层析测试数据优化处理方法。
背景技术
在色谱分析、原子吸收、核磁等领域,参照检测仪器的线性范围和灵敏度,选用峰高和峰面积都可以用作精准的定量方法。
目前输出的谱图(图2(d))中,各处信号强度未做任何处理,直接输出的结果包含了部分重复读取的荧光信号,样本的数据处理方式是采用TAP法进行计算,其中TA、CA分别表示现有谱图中测试线和质控线上信号峰的积分面积,其物理意义是将图2中光斑与测试线、质控线相交的阴影部分面积反馈的信号进行积分加和,因此在TA和CA的计算中部分测试线和质控线上的局部荧光信号区会在光斑移动前后被重复计算多次(约20次)。图3(a) 所示,光斑从左至右移动,得到图2(d)所示图谱,光斑圆心在测试线中点处时,反馈的信号强度值最大。图3(b)中红色光斑与测试线相交反馈的有效信号表示为区域1,光斑继续移动到黄色标识位置处,此时反馈的有效信号是区域1+2,此时区域1即是重复读取的信号,区域2为增值信号强度。当光斑继续移动时,区域1和区域2都会成为重复信号。直接将重复读取的信号进行数据计算,物理意义不明确,并且实验结果不准确。
在仪器输出的谱图中,各数据点反馈的信号强度表示该处光斑与测试线相交时阴影面积覆盖的所有荧光信号;当光斑移动距离小于光斑直径时,会有部分之前阴影面积覆盖的荧光信号被重复读取。此外,选用质控线进行定量计算,引入了质控线上的干扰因素,容易产生较大的批间误差。由于微球的添加量(约为0.2-0.4μL)较少,在加样时容易因为微球附着于加样枪头而产生批间添加量的误差,或是在制备过程中样品批间损失率不一致,使得最终添加的微球总量存在差异。虽然微球在测试时是过量的,当批间添加量不同时,微球与测试线上的结合量基本一致,但与质控线上的结合量却存在较大的差异,最终计算数据时,就会使得批间样品的差异变大,数据可比性降低。
综上所述,本领域迫切需要研发出一种物理意义明确,并且能够直观反映样品最高信号强度和总信号强度的数据处理方式,同时排除质控线上伴随着的批次间样品损失量、批次间加样量差异、抗体标记过程中的部分干扰因素等,减少重复读取的荧光信号对实验结果的误差。
发明内容
本发明的目的在于提供一种荧光免疫层析测试数据优化处理方法。
本发明第一方面,提供一种荧光免疫层析测试数据的处理方法,包括步骤:
(1)提供一免疫层析试纸条、一激发光源和一受激光读取装置,其中,
所述激发光源用于产生激发光,所述激发光被照射在所述层析试纸条上,从而形成光斑;
并且所述的激发光源配有控制装置,用于控制所述的免疫层析试纸条和所述激发光源的相对位置,从而使得所述光斑沿所述层析试纸条的长度方向进行移动;
其中,所述的免疫层析试纸条设有测试线,其中,所述试纸条长度为L0,宽度为W0,所述测试线长度为Lt;
(2)使所述激发光源产生激发光,照射在所述层析试纸条的近端上,从而形成光斑,并通过所述受激光读取装置读取光斑区域发出的受激光;
(3)通过所述控制装置控制光斑在试纸条上沿层析试纸条的近端至远端方向,从当前位置移动到下一位置,并读取下一位置处光斑区域发出的受激光,移动步长为St;
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