[发明专利]一种地面成像高光谱反演钾盐含量的方法有效

专利信息
申请号: 201610958575.3 申请日: 2016-10-28
公开(公告)号: CN106568737B 公开(公告)日: 2019-10-22
发明(设计)人: 邱骏挺;张川;郭邦杰 申请(专利权)人: 核工业北京地质研究院
主分类号: G01N21/3563 分类号: G01N21/3563
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 闫兆梅
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 待测样品 钾盐 成像 反演 标准物质 关系模型 高光谱 白板 高光谱遥感数据 高光谱数据 高光谱遥感 参考 光谱 估算 重复
【权利要求书】:

1.一种地面成像高光谱反演钾盐含量的方法,其特征在于:包括如下步骤:

步骤1,放置参考白板(3);

步骤2,放置标准样品(4);

步骤3,放置待测样品(5);

步骤4,获取参考白板(3)、标准样品(4)和待测样品(5)的成像高光谱遥感数据;

步骤5,更换待测样品(5);

步骤6,重复步骤4和步骤5直至获取所有待测样品(5)的成像高光谱数据;

步骤7,建立上述步骤6中得到的成像高光谱数据与钾盐含量的关系模型;所述的步骤7中,先运用图像处理软件获取标准物质和待测样品的光谱曲线,再运用统计学软件建立光谱与钾盐含量的关系模型,所述的步骤7的具体步骤如下:

步骤7.1,打开ENVI软件,载入所述步骤4中得到的参考白板(3)、标准样品(4)和待测样品(5)的成像高光谱数据的扫描图像,即DN值图像;

步骤7.2,对参考白板(3)的DN值和反射率进行线性拟合,将DN值图像转化为反射率图像;

步骤7.3,运用SPSS软件,从标准样品(4)的第一个波段开始,依次对待测样品(5)的反射率参数和钾盐含量进行相关性分析,选择相关系数最大的波段和对应的反射率参数建立光谱反射率参数与钾盐含量的线性关系模型;

步骤8,利用步骤7中建立的关系模型反演待测样品(5)的钾盐含量。

2.如权利要求1所述的一种地面成像高光谱反演钾盐含量的方法,其特征在于:所述的步骤1中将参考白板(3)放置在成像高光谱仪(1)的扫描仪的运行轨道(2)下方。

3.如权利要求2所述的一种地面成像高光谱反演钾盐含量的方法,其特征在于:所述的步骤2中,放置的标准样品(4)为多个钾盐含量不同、但含量已知的样品,将标准样品(4)放置在成像高光谱仪(1)的扫描仪的运行轨道(2)下方。

4.如权利要求3所述的一种地面成像高光谱反演钾盐含量的方法,其特征在于:所述的步骤3中,放置的待测样品(5)为钾盐含量未知样品,将待测样品(5)放置在成像高光谱仪(1)的扫描仪的运行轨道(2)下方。

5.如权利要求4所述的一种地面成像高光谱反演钾盐含量的方法,其特征在于:所述的步骤4的具体步骤如下:

启动成像高光谱仪(1),让成像高光谱仪(1)沿轨道(2)运行,依次扫过参考白板(3)、标准样品(4)和待测样品(5),获得上述目标物的成像高光谱数据。

6.如权利要求5所述的一种地面成像高光谱反演钾盐含量的方法,其特征在于:所述的步骤5的具体步骤如下:

用另一件钾盐含量未知的标准样品(4)替换所述步骤3中的待测样品(5),替换时保持所述参考白板(3)和标准样品(4)的位置不变。

7.如权利要求6所述的一种地面成像高光谱反演钾盐含量的方法,其特征在于:所述的步骤8的具体步骤如下:

将待测样品(5)的反射率参数带入到所述步骤7中构建的光谱反射率参数与钾盐含量的线性关系模型,得到对应的钾盐含量。

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