[发明专利]制造PZT纳米粒子墨水基压电传感器的方法和系统有效

专利信息
申请号: 201610825171.7 申请日: 2012-08-17
公开(公告)号: CN106185795B 公开(公告)日: 2018-01-09
发明(设计)人: J·L·杜斯;S·R·约翰斯顿;I-Y·沈;G·曹;H-L·黄 申请(专利权)人: 波音公司;华盛顿大学商业化中心
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00;G01D5/12
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司11245 代理人: 徐东升,赵蓉民
地址: 美国伊*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 制造 pzt 纳米 粒子 墨水 压电 传感器 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种沉积的锆钛酸铅纳米粒子墨水基压电传感器组件,即沉积的PZT纳米粒子墨水基压电传感器组件,其包含:

基体;以及

直写沉积的锆钛酸铅纳米粒子墨水基压电传感器组件即PZT纳米粒子墨水基压电传感器组件,其沉积在所述基体上,所述PZT纳米粒子墨水基压电传感器组件包含:

PZT纳米粒子墨水基压电传感器,其包含经由墨水沉积直写印制过程沉积在所述基体上的PZT纳米粒子墨水,所述PZT纳米粒子墨水一旦被沉积则不需要高温烧结或结晶过程;以及

动力和通信电线组件,其被联接到所述PZT纳米粒子墨水基压电传感器,所述动力和通信电线组件包含经由所述墨水沉积直写印制过程被沉积在所述基体上的导电墨水。

2.根据权利要求1所述的沉积的PZT纳米粒子墨水基压电传感器组件,其中所述PZT纳米粒子墨水包括纳米级PZT粒子。

3.根据权利要求1所述的沉积的PZT纳米粒子墨水基压电传感器组件,其中所述PZT纳米粒子墨水包括用于促进所述PZT纳米粒子墨水粘结到所述基体的溶胶-凝胶基粘结促进剂。

4.根据权利要求1所述的沉积的PZT纳米粒子墨水基压电传感器组件,其中所述墨水沉积直写印制过程不需要PZT晶体在所述基体上生长。

5.根据权利要求1所述的沉积的PZT纳米粒子墨水基压电传感器组件,其中所述墨水沉积直写印制过程包括下列中的一种:喷射原子化沉积过程、墨水喷射印制过程、气雾剂印制过程、脉冲激光蒸发过程、柔印过程、微喷涂印制过程、平网丝印过程、旋转丝网印制过程和凹版印制过程。

6.根据权利要求1所述的沉积的PZT纳米粒子墨水基压电传感器组件,其中所述基体包括复合材料、金属材料或复合材料和金属材料的组合。

7.根据权利要求1所述的沉积的PZT纳米粒子墨水基压电传感器组件,其中所述基体具有弯曲表面。

8.根据权利要求1所述的沉积的PZT纳米粒子墨水基压电传感器组件,其中所述PZT纳米粒子墨水基压电传感器以定制形状被沉积在所述基体上。

9.根据权利要求1所述的沉积的PZT纳米粒子墨水基压电传感器组件,其中所述动力和通信电线组件是包含第一导电电极、第二导电电极、第一导电示踪电线和第二导电示踪电线的致动器。

10.根据权利要求9所述的沉积的PZT纳米粒子墨水基压电传感器组件,其中所述第一导电电极、所述第二导电电极、所述第一导电示踪电线和所述第二导电示踪电线相邻于所述PZT纳米粒子墨水基压电传感器。

11.一种复合结构,其包含:

复合基体;以及

直写沉积的锆钛酸铅纳米粒子墨水基压电传感器组件即PZT纳米粒子墨水基压电传感器组件,其沉积在所述复合基体上,所述PZT纳米粒子墨水基压电传感器组件包含:

PZT纳米粒子墨水基压电传感器,其包含经由墨水沉积直写印制过程沉积在所述复合基体上的PZT纳米粒子墨水,所述PZT纳米粒子墨水一旦被沉积则不需要高温烧结或结晶过程;以及

动力和通信电线组件,其被联接到所述PZT纳米粒子墨水基压电传感器,所述动力和通信电线组件包含经由所述墨水沉积直写印制过程被沉积在所述复合基体上的导电墨水。

12.根据权利要求11所述的复合结构,其中所述PZT纳米粒子墨水包括纳米级PZT粒子。

13.根据权利要求11所述的复合结构,其中所述PZT纳米粒子墨水包括用于促进所述PZT纳米粒子墨水粘结到所述复合基体的溶胶-凝胶基粘结促进剂。

14.根据权利要求11所述的复合结构,其中所述墨水沉积直写印制过程包括下列中的一种:喷射原子化沉积过程、墨水喷射印制过程、气雾剂印制过程、脉冲激光蒸发过程、柔印过程、微喷涂印制过程、平网丝印过程、旋转丝网印制过程和凹版印制过程。

15.根据权利要求11所述的复合结构,其中所述复合基体具有弯曲表面。

16.根据权利要求11所述的复合结构,其中所述动力和通信电线组件是包含第一导电电极、第二导电电极、第一导电示踪电线和第二导电示踪电线的致动器。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于波音公司;华盛顿大学商业化中心,未经波音公司;华盛顿大学商业化中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610825171.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top