[发明专利]电子设备屏蔽效能测试装置、系统及方法

权利要求书

1.一种电子设备屏蔽效能测试系统，包括测试装置及射频无反射室，其特征在于：所述测试装置包括信号源、天线板、接收天线及接收机，所述天线板上设置天线模组，所述信号源用于接通所述天线模组后产生场强，所述接收机用于通过所述接收天线而接收所述场强，当所述测试装置放置在所述射频无反射室时，所述接收机获取参考场强；当所述信号源与所述天线板安装在电子设备的屏蔽壳体内、及所述测试装置与所述屏蔽壳体一起放置在所述射频无反射室进行测试时，所述接收机接收测试场强，测试人员根据所述参考场强及所述测试场强计算出电磁屏蔽效能值，从而通过所述电磁屏蔽效能值判断所述屏蔽壳体是否符合要求。

2.如权利要求1所述的电子设备屏蔽效能测试系统，其特征在于：所述天线板上开设有过孔，所述过孔用于传送所述场强信号。

3.如权利要求1所述的电子设备屏蔽效能测试系统，其特征在于：所述天线板包括四层，一连接器通过第一层与所述信号源连接，第二层为天线层，第三层为铜层，第四层为信号层，所述第二层位于所述第一层与所述第三层之间，所述第三层位于所述第二层与所述第四层之间。

4.如权利要求1所述的电子设备屏蔽效能测试系统，其特征在于：当所述电磁屏蔽效能值不符合要求时，所述测试人员查找所述屏蔽壳体的缺陷，并根据所述屏蔽壳体的缺陷采取对应的措施，再对所述屏蔽壳体进行测试，直到所述屏蔽壳体符合要求。

5.一种测试装置，用于测试电子设备的屏蔽效能，其特征在于：所述测试装置包括信号源、天线板、接收天线及接收机，所述天线板上设置天线模组，所述信号源用于接通所述天线模组后产生场强，所述接收机用于通过所述接收天线而获取所述场强，当所述测试装置放置在所述射频无反射室时，所述接收机接收参考场强；当所述信号源与所述天线板安装在电子设备的屏蔽壳体内、及所述测试装置与所述屏蔽壳体一起放置在所述射频无反射室进行测试时，所述接收机接收测试场强，测试人员根据所述参考场强及所述测试场强计算出电磁屏蔽效能值，从而通过所述电磁屏蔽效能值判断所述屏蔽壳体是否符合要求。

6.一种电子设备屏蔽效能测试方法，包括以下步骤：

仿真设计测试装置的天线板，在所述天线板上设置天线模组；

将测试装置在射频无反射室中进行测试，从而获取参考场强；

将所述测试装置的信号源与所述天线板安装在电子设备的屏蔽壳体内，并将所述测试装置及所述屏蔽壳体一起放置于所述射频无反射室中进行测试，从而获取测试场强；

根据所述参考场强及所述测试场强，计算出电磁屏蔽效能值；及

判断所述电磁屏蔽效能值是否符合要求。

7.如权利要求6所述的电子设备屏蔽效能测试方法，其特征在于：所述电子设备屏蔽效能测试方法还包括在判断所述电磁屏蔽效能值不符合要求后查找所述屏蔽壳体的缺陷。

8.如权利要求7所述的电子设备屏蔽效能测试方法，其特征在于：所述电子设备屏蔽效能测试方法还包括在查找所述屏蔽壳体的缺陷后根据所述缺陷采取对应的措施。

9.如权利要求8所述的电子设备屏蔽效能测试方法，其特征在于：所述电子设备屏蔽效能测试方法还包括在采取所述对应的措施后进行上述将测试装置在射频无反射室中进行测试，从而获取参考场强步骤。

10.如权利要求6所述的电子设备屏蔽效能测试方法，其特征在于：所述电子设备屏蔽效能测试方法还包括在仿真设计测试装置的天线板，在所述天线板上设置天线模组步骤后仿真测试所述天线板。