[发明专利]一种天线参数测量方法及装置有效

专利信息
申请号: 201610472005.3 申请日: 2016-06-24
公开(公告)号: CN107543979B 公开(公告)日: 2021-07-30
发明(设计)人: 程文远;马跃;夏智海;郭丹旦 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 深圳市力道知识产权代理事务所(普通合伙) 44507 代理人: 张传义
地址: 518057 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 天线 参数 测量方法 装置
【权利要求书】:

1.一种天线参数测量方法,应用于控制装置,其特征在于,包括:

获取飞行轨迹参数,根据所述飞行轨迹参数生成飞行轨迹,所述飞行轨迹至少包括圆周轨迹;所述圆周轨迹包括多个半径相同的同心圆,每两个相邻的所述同心圆之间的垂直间距相同,其中,设置所述垂直间距相同用于测得待测天线沿竖直面各个方向的辐射强度,并在竖直方向各个场强数据进行插值后得到平滑的场强数据,多个所述同心圆的圆心所在的直线为所述圆周轨迹的中心线;所述圆周轨迹的中心线经过所述待测天线的重心;

控制一飞行装置按照所述飞行轨迹绕所述待测天线飞行并在所述飞行轨迹上测量所述待测天线的天线参数,所述天线参数包括水平方向的场强值、竖直方向场强值以及位置参数;

接收所述飞行装置发送的携带有所述天线参数的测量结果;

根据所述水平方向的场强值、竖直方向场强值以及位置参数生成所述待测天线的三维方向图;根据所述三维方向图测得所述待测天线的方位角和下倾角。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述飞行轨迹参数至少包括:所述飞行轨迹的顶端高度、底端高度以及所述飞行轨迹的圆周轨迹的半径、中心线位置参数、垂直间距。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述天线参数至少包括:所述圆周轨迹中所测量的所述待测天线的场强数据以及与所述场强数据相对应的位置点的位置信息;所述位置信息至少包括所述位置点的高度参数和经纬度参数。

4.一种天线参数测量方法,应用于飞行装置,其特征在于,包括:

根据控制装置发送的飞行轨迹绕待测天线飞行,并在所述飞行轨迹上测量所述待测天线的天线参数;

向所述控制装置发送携带有所述天线参数的测量结果;

其中,所述飞行轨迹至少包括圆周轨迹;所述圆周轨迹包括多个半径相同的同心圆,每两个相邻的所述同心圆之间的垂直间距相同,其中,设置所述垂直间距相同用于测得所述待测天线沿竖直面各个方向的辐射强度,并在竖直方向各个场强数据进行插值后得到平滑的场强数据,多个所述同心圆的圆心所在的直线为所述圆周轨迹的中心线;所述圆周轨迹的中心线经过所述待测天线的重心,所述天线参数包括水平方向的场强值、竖直方向场强值以及位置参数;

其中,所述测量所述待测天线的天线参数,包括:

根据所述水平方向的场强值、竖直方向场强值以及位置参数生成所述待测天线的三维方向图;根据所述三维方向图测得所述待测天线的方位角和下倾角。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述飞行轨迹参数至少包括:所述飞行轨迹的顶端高度、底端高度以及所述飞行轨迹的圆周轨迹的半径、中心线位置参数、垂直间距。

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述天线参数至少包括:所述圆周轨迹中所测量的所述待测天线的场强数据以及与所述场强数据相对应的位置点的位置信息;所述位置信息至少包括所述位置点的高度参数和经纬度参数。

7.一种天线参数测量装置,应用于控制装置,其特征在于,包括:

参数获取模块,用于获取飞行轨迹参数,根据所述飞行轨迹参数生成飞行轨迹,所述飞行轨迹至少包括圆周轨迹;所述圆周轨迹包括多个半径相同的同心圆,每两个相邻的所述同心圆之间的垂直间距相同,其中,设置所述垂直间距相同用于测得待测天线沿竖直面各个方向的辐射强度,并在竖直方向各个场强数据进行插值后得到平滑的场强数据,多个所述同心圆的圆心所在的直线为所述圆周轨迹的中心线;所述圆周轨迹的中心线经过所述待测天线的重心;

飞行控制模块,用于控制一飞行装置按照所述飞行轨迹绕所述待测天线飞行并在所述飞行轨迹上测量所述待测天线的天线参数,所述天线参数包括水平方向的场强值、竖直方向场强值以及位置参数;

接收模块,用于接收所述飞行装置发送的携带有所述天线参数的测量结果,根据所述水平方向的场强值、竖直方向场强值以及位置参数生成所述待测天线的三维方向图;根据所述三维方向图测得所述待测天线的方位角和下倾角。

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