[发明专利]光源模块及光学检测设备

说明书

技术领域

本发明涉及一种光源模块及光学检测设备，尤其涉及一种用于瑕疵检测的光源模块及光学检测设备。

背景技术

自动光学检查(AOI)常见于半导体制程、半导体封装测试、电路板制程、面板制程、其他电子零组件制程或其他相关产业的制程，采用光学仪器取代传统人力进行瑕疵检测，不仅能提高生产效率，亦能提高检测的准确性。一般而言，自动光学检查设备所采用的检测光源可概分为环形光源(RD)、外同轴光源(FV)、条状光源(DB)、背光板(BC)、水平灯(FL)、低角度环形灯(RL)、四方条状光源(SB)或其他光源类型，其中前述检测光源可发出单色光或多色光，且出光角度大多被固定。一旦待测物的表面轮廓或待测位置较为复杂时，便容易产生检测完整度不足的情形。

再者，现行的检测光源各色光源组合多半是固定的，对于需变换不同颜色光源对待测物进行各种检测项目时，则需花费相当多时间更换整套光源模块。为解决现行光源模块以上的缺点，因此，提出本发明作为改善方案。

发明内容

本发明提供一种光源模块及光学检测设备，其能弹性调整各色光源组合及角度，以提高检测效率。

本发明提出一种光源模块，其包括框架以及至少二光源组件。框架具有相互连通的容置空间、第一开口以及第二开口，其中第一开口与第二开口分别位于容置空间的相对两侧。此两光源组件可动地设置于框架上，且并列于容置空间内。各个光源组件具有面向第一开口的出光侧与面向第二开口的背侧。

在本发明的一实施例中，上述的光源模块还包括至少两对轴杆以及至少两对定位杆。各个光源组件通过对应的一对轴杆枢设于框架。各个光源组件通过对应的一对定位杆滑设于框架。

在本发明的一实施例中，上述的框架包括彼此相对两侧壁。此两侧壁定义出容置空间，各个侧壁对应此两对轴杆设置有至少两枢接孔，且各个侧壁对应此两对定位杆设置有至少两滑槽。

在本发明的一实施例中，上述的至少一枢接孔位于任两相邻的滑槽之间或至少一滑槽位于任两相邻的枢接孔之间。

在本发明的一实施例中，上述的光源模块还包括至少两散热鳍片组。各个散热鳍片组连接对应的光源组件的背侧。

在本发明的一实施例中，上述的光源模块还包括散热风扇。散热风扇对应第二开口而设置于框架上，其中各个散热鳍片组位于散热风扇与对应的光源组件之间。

在本发明的一实施例中，上述的光源模块还包括至少两对连动件以及至少两对定位杆。各个光源组件通过对应的一对连动件枢设于框架。各个光源组件通过对应的一对定位杆滑设于框架，其中各个定位杆穿过于对应的连动件。

在本发明的一实施例中，上述的各个光源组件包括多个点光源。这些点光源用以发出红光、蓝光、绿光、白光或紫外光。

本发明提出一种光学检测设备，其包括固定座以及至少两个上述光源模块。此两光源模块可拆卸地组装于固定座的周围。

在本发明的一实施例中，上述的此两光源模块的这些光源组件的这些出光侧背向于固定座。

基于上述，本发明的光学检测设备将多个光源模块整合为一，且各个光源模块的多个光源组件的出光角度可调，故能在单一个工作站位上对待测物进行完整的瑕疵检测，藉以简化检测流程，并且提高检测效率。另一方面，各个框架的容置空间内的这些光源组件采分层设置，且这些框架环绕设置于固定的周围，因而有助于缩减光学检测设备的体积。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1是本发明一实施例的光学检测设备的局部爆炸示意图；

图2与图3分别是图1的光学模块于两不同视角的立体示意图；

图4是图1的光源组件与散热鳍片组的立体示意图；

图5是图4沿剖线I-I的剖面示意图；

图6是本发明另一实施例的光学模块的立体示意图；

图7是本发明又一实施例的光学模块的局部爆炸示意图。

附图标记：

10：锁固件

100：光学检测设备

110：固定座

111：延伸部

112：本体部

112a：上表面

112b：下表面

112c：锁孔

120、120a、120b：光源模块

121：框架

1211：侧壁

1212：枢接孔

1213：滑槽

121a：容置空间