[发明专利]一种新型金相试样抛光装置

说明书

技术领域

本发明涉及机械磨抛光领域，具体涉及一种新型金相试样抛光装置。

背景技术

在观察金相组织的试验中，传统的金相试样抛光机在使用过程中有很多不足之处。操作者在手持试样进行抛光处理时将导致试样抛光面不平整，对后续的观察实验造成影响，并且手持试样用力不均匀容易造成试样飞出，存在一定的安全隐患，再者，在抛光过程中，对于一些质地较软的金属材料将会产生大量的粉尘，对环境及操作者产生一定的危害。传统机械抛光装置在进行试验时，手持薄试样进行抛光较难实现，需提前对试样进行镶嵌处理，效率低下。

发明内容

针对上述不足，本发明目的在于提供一种在抛光过程中，无需手持试样，抛光精度高，效率高，且方便快捷环保的金相试样抛光装置。

本发明采用的技术方案为一种新型金相试样抛光装置，包括抛光盘主体、试样夹具和防尘罩，其特征在于：所述试样夹具和防尘罩固定于抛光盘主体上；所述抛光盘主体包括抛光盘外壳、抛光盘、电源指示灯和开关；所述试样夹具包括固定支架、定V型块模块和动V型块模块，所述固定支架包括横向导杆、纵向导杆、圆柱滑块、紧定螺钉和导杆固定螺钉，所述定V型块模块包括定V型块和A托块，所述定V型块与所述A托块固定，所述A托块与横向导杆连接，所述圆柱滑块连接横向导杆与纵向导杆，所述纵向导杆通过导杆固定螺钉固定于抛光盘主体上；所述动V型块模块包括T型手拧螺钉、定位块、V型块定位块、动V型块和B托块，所述T型手拧螺钉与动V型块连接，所述定位块与V型块定位块固定于B托块上；所述防尘罩包括防尘罩外壳、前门、合页和把手，所述前门通过合页与防尘罩外壳连接，所述防尘罩底部四角开有螺钉孔。

本发明的技术特征还有：所述定V型块上有螺钉孔，所述横向导杆与所述A托块的连接端有螺纹，所述圆柱滑块两端开有螺纹孔，所述纵向导杆底端为U型。

本发明的技术特征还有：所述T型手拧螺钉与定位块为螺纹配合，所述V型块定位块上开有与动V型块宽度相等的方形光孔。

本发明的有益效果在于：（1）操作方便、快捷、环保；（2）无需手持试样，抛光精度高且无安全隐患；（3）可通过调节滑块随意改变试样抛光位置及角度，满足不同的抛光要求，适用性好。

附图说明

附图1为本发明实施例立体结构图；

附图2为本发明实施例抛光盘主体和试样夹具立体结构图；

附图3为本发明实施例固定支架立体结构图；

附图4为本发明实施例定V型模块立体结构图；

附图5为本发明实施例动V型模块立体结构图；

其中，1是防尘罩外壳，2是抛光盘外壳，3是开关，4是电源指示灯，5是合页，6是前门，7是把手，8是抛光盘，9是纵向导杆，10是紧定螺钉，11是圆柱滑块，12是导杆固定螺钉，13是横向导杆，14是定V 型块，15是螺钉孔，16是A托块，17是T型手拧螺钉，18是定位块，19是V型块定位块，20是动V型块，21是B托块。

具体实施方式

下面结合附图，对本发明的具体实施方式进行说明。

如图所示，本发的一种新型金相试样抛光装置，包括抛光盘主体、试样夹具和防尘罩，其中，所述试样夹具和防尘罩固定于抛光盘主体上；所述抛光盘主体包括抛光盘外壳2、抛光盘8、电源指示灯4和开关3；所述试样夹具包括固定支架、定V型块模块和动V型块模块，所述固定支架包括横向导杆13、纵向导杆9、圆柱滑块11、紧定螺钉10和导杆固定螺钉12，所述定V型块模块包括定V型块14和A托块16，所述定V型块14与所述A托块16固定，所述A托块16与横向导杆13连接，所述圆柱滑块11连接横向导杆13与纵向导杆9，所述纵向导杆9通过导杆固定螺钉12固定于抛光盘主体上；所述动V型块模块包括T型手拧螺钉17、定位块18、V型块定位块19、动V型块20和B托块21，所述T型手拧螺钉17与动V型块20连接，所述定位块18与V型块定位块19固定于B托块21上；所述防尘罩包括防尘罩外壳1、前门6、合页5和把手7，所述前门6通过合页5与防尘罩外壳1连接，所述防尘罩底部四角开有螺钉孔。

本发明中，所述定V型块14上有螺钉孔，所述横向导杆13与所述A托块16的连接端有螺纹，所述圆柱滑块11两端开有螺纹孔，所述纵向导杆9底端为U型。

本发明中，所述T型手拧螺钉17与定位块18为螺纹配合，所述V型块定位块19上开有与动V型块20宽度相等的方形光孔。