[发明专利]一种X射线荧光光谱法分析制样用助研磨添加剂及使用方法

说明书

本发明涉及一种X射线荧光光谱法分析制样用助研磨添加剂及使用方法，添加剂包括乙醇(95％分析纯)、三乙醇胺(分析纯95％)、硬酯酸钠(分析纯)，乙醇与三乙醇胺按体积比为(1～2)：1；每50毫升乙醇和三乙醇胺混合物中加入3～5克硬酯酸钠。在样品制备的过程中添加本添加剂，使样品在研磨过程中，细小颗粒之间不能产生粒度效应。消除样品粒度之间的吸附力，增加样品颗粒之间的张力，使样品在研磨过程中不能粘附成球状或饼状，阻碍样品粒度的进一步破碎。使样品的破碎粒度最终达到小于0.050mm。

技术领域

本发明涉及一种X射线荧光光谱法分析制样用助研磨添加剂及使用方法。

背景技术

随着X射线荧光光谱仪在无机化学分析领域的越来越多地应用，对样品分析前制样技术的要求越来越高，为了保证分析结果的准确性，要求制样粒度非常苛刻，但是某些熔剂类、球团类样品本身的物理性质使得它们不能达到要求的粒度。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种X射线荧光光谱法分析制样用助研磨添加剂，使得样品粒度可以克服本身的物理性质的缺点，达到X射线荧光光谱仪分析要求的粒度。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案实现：

一种X射线荧光光谱法分析制样用助研磨添加剂，包括：

乙醇(95％分析纯)

三乙醇胺(分析纯95％)

硬酯酸钠(分析纯)

乙醇与三乙醇胺按体积比为(1～2)：1；

每50毫升乙醇和三乙醇胺混合物中加入3～5克硬酯酸钠。

所述添加剂的使用方法：每20克研磨样品添加1～1.5毫升添加剂。

一种X射线荧光光谱法分析制样用助研磨添加剂的配制方法：按上述比例将乙醇和三乙醇胺制成混合溶液，混合均匀后加入硬酯酸钠充分混合待用。

与现有的技术相比，本发明的有益效果是：

1、在样品制备的过程中添加本添加剂，使样品在研磨过程中，细小颗粒之间不能产生粒度效应。消除样品粒度之间的吸附力，增加样品颗粒之间的张力，使样品在研磨过程中不能粘附成球状或饼状，阻碍样品粒度的进一步破碎。使样品的破碎粒度最终达到小于0.050mm。

2、消除了由于样品的粒度效应、矿物效应而对X射线荧光光谱仪分析结果带来的波动。

3、推动更多的受粒度效应和矿物效应影响的矿物原料使用X射线荧光光谱仪分析。

具体实施方式

下面结合实施例对本发明进一步说明：

以下实施例对本发明进行详细描述。这些实施例仅是对本发明的最佳实施方案进行描述，并不对本发明的范围进行限制。

实施例1

制备球团矿样品40g。

助研磨添加剂制备：乙醇(95％分析纯) 30ml

三乙醇胺(分析纯95％) 20ml

硬酯酸钠(分析纯) 4g

助研磨添加剂的配制方法：按上述比例将乙醇和三乙醇胺制成混合溶液，混合均匀后加入硬酯酸钠充分混合待用。

在40g样品中加入2ml上述添加剂。破碎粒度最终达到小于0.050mm。

实施例2

制备白云石样品20g。