[发明专利]一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机

权利要求书

1.一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机，由主机箱体（1）、和处理显示器（18）组成，其特征在于：主机箱体（1）竖直朝前的一面有开口，箱体里面通过上下箱室隔板（5）将箱体内部分为下层箱室（2）和上层箱室（13）两层，并且都各自在箱体开口处安装有独立的下层透明门（17）和上层透明门（14）；下层箱室（2）安装有倒置荧光显微镜（3），倒置荧光显微镜（3）的镜头上方对着观察窗（4）；观察窗（4）上方的上下箱室隔板（5）的上面，即在上层箱室（13）内的上下箱室隔板（5）一侧安装有样品台（6）；样品台（6）上固定放置检测芯片（15）；在样品台（6）正上方有全内反射光源及接收器（10）；在上层箱室（13）的里侧箱体壁上安装有竖轨（12），在竖轨（12）上还水平安装有横轨（9），横轨（9）与竖轨（12）十字交叉相互垂直；全内反射光源及接收器（10）通过竖轨（12）或横轨（9）固定；在上层箱室（13）的里侧箱体壁上还加工安装有连体的加湿器（7）和风扇（8）；上层箱室（13）的里侧箱体壁有两层保温隔板（19），在两层保温隔板（19）之间是加热室（20），加热室(20)内安装有控制温度的电加热装置；在主机箱体（1）顶部加工安装有空气净化装置（11）与上层箱室（13）相通；处理显示器（18）与主机箱体（1）内的倒置荧光显微镜（3）和全内反射光源及接收器（10）线路相连。

2.根据权利要求1所述的一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机，其特征在于：所述风扇（8）与加热室（20）相通；加热室（20）的上方通过空气过滤层（21）与空气净化装置（11）相通。

3.根据权利要求1所述的一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机，其特征在于：所述主机箱体（1）是由保温材料加工的密闭箱体；所述下层透明门（17）和上层透明门（14）均是密闭保温门。

4.根据权利要求1所述的一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机，其特征在于：所述主机箱体（1）是立方体形状，或者是圆柱体形状。