[发明专利]用电检测装置

权利要求书

1.一种用电检测装置，其特征在于，

包括：

自检脉冲单元，用于在所述用电检测装置上电时产生脉冲触发信号；

自检单元，用于周期性地产生模拟漏电信号，并且用于根据所述脉冲触发信号产生所述模拟漏电信号；

以及

漏电故障检测单元，用于检测所述模拟漏电信号和真实的漏电故障；

其中，所述自检单元包括：

参考电压生成子单元，用于生成参考电压；

周期电压生成子单元，用于生成周期变化的电压，所述周期变化的电压在所述周期的不同阶段分别大于和小于所述参考电压；

比较器，用于比较所述参考电压和所述周期变化的电压；以及

第一晶体管，用于根据所述比较的结果产生所述模拟漏电信号。

2.根据权利要求1所述的用电检测装置，其特征在于，

所述脉冲触发信号为触发电压，所述自检脉冲单元包括：

第二晶体管，用于在所述用电检测装置上电时导通，以提供所述触发电压；以及

第二电容器，用于在预先确定的充电时间后断开所述第二晶体管；

其中，所述比较器还用于，当所述第二晶体管导通时，比较所述参考电压和所述触发电压。

3.根据权利要求1所述的用电检测装置，其特征在于，

所述脉冲触发信号为触发电压，所述自检脉冲单元包括：

第二晶体管，用于在所述用电检测装置上电时导通，以提供触发电压；以及

微分电路，用于在预先确定的微分时间后断开所述第二晶体管；

其中，所述比较器还用于，当所述第二晶体管导通时，比较所述参考电压和所述触发电压。

4.根据权利要求1所述的用电检测装置，其特征在于，

所述脉冲触发信号用于拉低所述参考电压，所述自检脉冲单元包括：

第二晶体管，用于在所述用电检测装置上电时导通，以拉低所述参考电压；以及

微分电路，用于在预先确定的微分时间后断开所述第二晶体管。

5.根据权利要求1所述的用电检测装置，其特征在于，

所述周期电压生成子单元包括串联连接的第一电阻和第一电容器。

6.根据权利要求5所述的用电检测装置，其特征在于，

通过调整所述第一电阻与所述第一电容器的参数来调整所述周期。

7.根据权利要求2至4中任一项所述的用电检测装置，其特征在于，

所述第二晶体管为三极管、二极管或可控硅。

8.根据权利要求1所述的用电检测装置，其特征在于，

所述用电检测装置还包括：

放电单元，用于在电源电压低于电压预设定值的情况下禁止所述自检单元产生所述模拟漏电信号。

9.根据权利要求8所述的用电检测装置，其特征在于，

所述放电单元包括第三晶体管，用于在所述电源电压低于所述电压预设定值的情况下，将所述周期电压生成子单元的输出端与地相连接，以使得所述周期变化的电压为零。

10.根据权利要求1所述的用电检测装置，其特征在于，

所述漏电故障检测单元还包括第一故障显示单元，所述第一故障显示单元用于显示所述漏电故障。

11.根据权利要求1所述的用电检测装置，其特征在于，

所述自检单元还包括第二故障显示单元，所述第二故障显示单元用于显示所述用电检测装置的故障。

12.一种电连接设备，具有根据权利要求1至11中任一项所述的用电检测装置。