[发明专利]一种植被光谱特征吸收峰自动识别方法在审

专利信息
申请号: 201610107562.5 申请日: 2016-02-26
公开(公告)号: CN105651717A 公开(公告)日: 2016-06-08
发明(设计)人: 李喆;古春;郭旭东 申请(专利权)人: 成都市国土规划地籍事务中心
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31
代理公司: 成都泰合道知识产权代理有限公司 51231 代理人: 向晟;孙恩源
地址: 610071 *** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 植被 光谱 特征 吸收 自动识别 方法
【权利要求书】:

1.一种植被光谱特征吸收峰自动识别方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:

(1)、以微分法对原始光谱曲线进行前置处理,对原始光谱曲线波段上各采样点按公式: 计算其二阶微分量,从而得到二阶微分曲线,并利用二阶微分曲线对 原始光谱曲线进行去噪预处理,其中,λι代表波段上第i个采样点的波长;Ri代表波段上第i 个采样点的原始光谱反射率;SDRi代表波段上第i个采样点的二阶微分, i=1,2......N,N为样本点数,即二阶微分曲线在波段上的总点数;

(2)、对噪音去除后的光谱曲线去包络线处理,得到去包络线光谱曲线;

(3)、微分法遍历去包络线光谱曲线的吸收峰峰值点及其左右肩;

(4)、吸收峰吸收特征强度计算。

2.根据权利要求1所述的一种植被光谱特征吸收峰自动识别方法,其特征在于,所述步 骤(1)的去噪预处理具体包括以下步骤:

如果二阶微分曲线在波段上某采样点的数值小于或等于反射率,即SDRi≤Ri,则该采 样点为真实曲线所经过的点(λι,Ri),将其保留;反之,如果该采样点的值大于反射率,即 SDRi>Ri,则为噪声,将其去掉;对于波段上保留的采样点进行平滑操作,根据下式重新计 算波段上保留的采样点的反射率,

其中,w是窗口选择的点的个数,N是样本点数,即二阶微分曲线在波段上的总点数。

3.根据权利要求2所述的一种植被光谱特征吸收峰自动识别方法,其特征在于,所述步 骤(2)具体包括以下步骤:

设所述去噪预处理后得到的Ri组成数组Ri,i=1,2......N;

波段上的采样点波长组成数组λi,i=1,2......N;

A.i:=1,将R1,λ1加入到包络线节点表中;

B.求新的包络节点,如i=N,则结束,否则j:=i+1;

C.连接i,j;检查(i,j)直线与反射率曲线的交点,如果j=N则结束,将Rjj加入到包 络线节点表中,否则:

a.m:=j+1;

b.如果m=N则完成检查,j是包络线上的点,将Rjj加入到包络线的节点表中,i=j

转到B;

c.否则,求i,j与λm的交点R1m

d.如果Rm<R1m,则j不是包络线上的点,j:=j+1转到B;如果Rm≤R1m则i,j与光 谱曲线最多有一个交点,m:=m+1,转到b;

D.得到光谱曲线的包络线节点后,将相邻的节点用直线段依次相连,求出 λi,i=1,2......N所对应的折线段上的点的函数值hi,i=1,2......N,从而得到该光谱曲 线的包络线,显然有Ri≤hi

E.对求出的包络线按公式i=1,2......N对光谱曲线进行包络线消除。

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