[发明专利]天线近场测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种天线测试领域，特别涉及一种三维全自动天线近场测试系统。

背景技术

一款天线性能的优劣需要通过一系列技术参数来衡量。其中天线的3D场形图以及增益大小皆为评测一款天线所需的重要数据，而这些数据需要通过在电波暗室内的天线3D测量系统测量而得。然而由于待测天线要接收信号就需要发射天线具有与待测天线相同的极化方向，因此，现有技术中都使用双极化的发射天线来满足不同极化的待测天线的需要。但是双极化天线的价格相对单极化天线高，不利于降低成本。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提出一种智能来电处理方法及系统，能够首先确认来电是否寻找主人并在整个来电过程中都不会响铃。

一种天线近场测试系统，用于测试一待测天线的性能，所述测试系统包括：基座、Z轴移动组件、X轴移动组件、Y轴移动组件、发射天线及控制中心，所述测试系统还包括摄像头，其中，所述Z轴移动组件及所述X轴移动组件分别固定安装在所述基座上，且该Z轴移动组件所在方向与该X轴移动组件所在方向相互垂直，所述Y轴移动组件固定安装在所述X轴移动组件上，所述待测天线安装在所述Z轴移动组件上，所述发射天线安装在所述Y轴移动组件，所述摄像头用于获取包括所述待测天线在内的影像并将该影像传送至所述控制中心，该控制中心将所述获取的影像与预先存储的标准影像进行匹配从而计算所述Z轴移动组件、X轴移动组件及Y轴移动组件移动的距离，进而控制所述待测天线与所述发射天线之间的距离和角度发生改变。

进一步地，所述Z轴移动组件包括固定于所述基座上的Z轴线性滑轨及与该Z轴线性滑轨相匹配的第一滑块，所述第一滑块活动设置在所述Z轴线性滑轨上以用于承载一第一支撑架，该第一支撑架用于安装所述待测天线。

进一步地，所述X轴移动组件包括固定于所述基座上的X轴线性滑轨及与该X轴线性滑轨相匹配的第二滑块，所述第二滑块活动设置在所述X轴线性滑轨上以用于承载一第二支撑架，该第二支撑架上用于安装所述Y轴移动组件。

进一步地，所述第二滑块上还固定设有一三角板，用以稳固所述第二支撑架。

进一步地，所述Y轴移动组件包括固定于所述第二支撑架上的Y轴线性滑轨及与该Y轴线性滑轨相匹配的第三滑块，所述第三滑块活动设置在所述Y轴线性滑轨上以用于承载一第三支撑架，该第三支撑架用于安装所述发射天线。

进一步地，所述基座的一端边缘处固定安装有一固定架，所述固定架用于支撑所述摄像头，所述摄像头正对所述待测天线。

进一步地，所述基座上还固定设置有用于固定该基座的一倒T型固定板。

进一步地，所述控制中心计算所述Z轴移动组件、X轴移动组件及Y轴移动组件移动的距离的步骤为：接收所述摄像头获取的包含所述待测天线在内的影像，所述摄像头获取的最大区域影像记为第一区域，该第一区域中用以表示所述待测天线的影像区域记为第二区域；根据预先设定的扫描规则扫描所述第一区域的影像，根据扫描结果统计一扫描行列数（Y’，X’）；判断所述扫描行列数（Y’，X’）与标准扫描行列数（Y0，X0）不相同时，计算出第二滑块移动的距离为X’-X0，所述第三滑块移动的距离为Y’-Y0；及统计第一区域的总像素数S’与标准区域的总像素数S0，计算出所述第一滑块移动的距离为（S’/S0）*Z0，其中Z0为对应标准区域的标准距离。

进一步地，所述扫描行列数（Y’，X’）与标准扫描行列数（Y0，X0）不相同是指Y’不等于Y0或者X’不等于X0，所述扫描行列数（Y’，X’）与标准扫描行列数为（Y0，X0）相同是指Y’等于Y0且X’等于X0。

进一步地，所述标准区域是指所述第一区域与所述第二区域具有重合的中心，依据上述扫描规则扫描所述标准区域统计得到所述标准扫描行列数（Y0，X0）。

进一步地，所述扫描规则为：从所述第一区域的左上角开始依次扫描所述第一区域的每一行的所有列像素直到扫描到第二区域左上角的第1个像素时停止，或者从所述第一区域的右下角开始依次扫描所述第一区域的每一行的所有列像素直到扫描到第二区域右下角的第1个像素时停止，所述控制中心统计扫描的总行数及最后一行的列数，记为第一扫描行列数（Y1，X1）。

相对于现有技术，本发明所述的天线近场测试系统，能够自动调整发射天线的方向，通过切换天线极化方向使得天线测试系统中可用单极化天线代替双极化天线，从而有效节省成本。

附图说明

图1是本发明天线近场测试系统较佳实施方式的硬件架构图。

图2是本发明天线近场测试系统较佳实施方式的爆炸图。