[发明专利]智能设备检测方法在审
申请号: | 201610100228.7 | 申请日: | 2016-02-24 |
公开(公告)号: | CN107121268A | 公开(公告)日: | 2017-09-01 |
发明(设计)人: | 王智中 | 申请(专利权)人: | 王智中 |
主分类号: | G01M13/00 | 分类号: | G01M13/00;G01M13/02;G01M13/04 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司31002 | 代理人: | 王洁 |
地址: | 中国台湾高雄市楠*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 智能 设备 检测 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种设备检测方法,特别是涉及一种智能设备检测方法。
背景技术
设备检测技术是指利用仪器对于运转中的设备进行整体或部分监测,以取得代表设备运转状况的信号,并对信号作分析以判断设备运转是否异常,以及运转异常的种类,并进行维修方法的判断。设备检测技术可对设备零件的老化、损坏、歪斜情形有精确的把握,并且,在此前提下将设备的保养从定期维修改为预防维修,一方面减少对于设备零件状况不了解就进行拆卸所可能带来的对设备的损伤,一方面减少设备停机所带来的成本损失,进一步提升了设备管理以及维护的效率从而提升产业竞争力。
现有的设备检测技术存在以下问题。现有的设备检测技术须在设备为固定转速的运转模式的设备,始能有效对于从设备撷取的信号进行分析,故可应用的设备有限。并且,现有设备检测技术使用离散小波转换将获取的信号进行分频,从而使用离散小波转换无法将信号分频成任意带宽范围的信号,如此将降低对于设备细部零件状况的掌握。另外,现有的设备检测技术使用均方根值、波高率作为获取的信号的特征指针,其中均方根值代表设备零件的振动程度,峰度系数代表零件之间的敲击程度,然而设备运转的异常非全靠均方根植及波高率所能表现,故对于均方根植及波高率所无法表现的异常状况,现有的设备检测技术无法侦测所述的异常从而无法达到对设备损坏的预防。
鉴于上述,现有的设备检测方法只能被应用于定转速设备,且使用的分频方式未能精确掌握所有设备零件的状况,此外,现有的设备检测方法表现设备运转的异常的特征指针并不够充分,设备检测对于设备异常的辨识能力较低。
发明内容
因此,本发明的一目的即提供一种智能设备检测方法,其能够不受设备的转速类型限制,且提高设备检测的精确性与对设备异常的辨识能力。
本发明为解决现有技术的问题所采用的技术手段提供一种智能设备检测方法,用以对一轴转设备的运转状况进行检测,所述的智能设备检测方法包含下列步骤:(a)在所述的轴转设备处于一轴转状态下时侦测所述的轴转设备从而得出一运转动态信号,所述的运转动态信号包括一振动信号且选择性地包括一轴转速信号;(b)对于所述的运转动态信号分频为预定的数个带宽范围从而计算出每个所述的带宽范围所分别对应的数个特征值,其中所述的数个特征值分别为一均方根值、一峰度系数及一调变值;以及(c)将每个所述的带宽范围所分别对应的数个特征值分别与对应于每个所述的带宽范围的数个特征值的个别基线比对,从而判断所述的设备的运转状况,其中,当所述的设备为定转速时,所述的个别基线由对于所述的轴转设备处于一正常轴转状态下所预先取得的一正常运转振动信号的每个所述的带宽范围所分别对应的数个基准特征值利用统计分析的信赖区间定义计算所得,以及当所述的设备为变转速时,所述的个别基线利用回归分析建立所述的轴转设备处于正常轴转状态下所预先取得的一正常运转轴转速信号与所述的正常运转振动信号的每个所述的带宽范围所分别对应的数个基准特征值的回归模型,再利用统计分析的信赖区间定义计算所得。
在本发明的一实施例中提供一种智能设备检测方法,其中步骤(a)中,所述的振动信号为一振动加速度信号。
在本发明的一实施例中提供一种智能设备检测方法,其中步骤(b)中,所述的不同类别的特征值的计算包括下列步骤:(b1)利用积分方法将所述的振动加速度信号积分为一振动速度信号;(b2)对于所述的振动加速度信号及所述的振动速度信号进行谐波小波滤波,使所述的振动加速度信号及所述的振动速度信号根据所述的数个带宽范围被分频;以及(b3)计算出所述的振动加速度信号及所述的振动速度信号对应于每个所述的带宽范围的速度均方根值、速度峰度系数、速度调变值、加速度均方根值、加速度峰度系数及加速度调变值。
在本发明的一实施例中提供一种智能设备检测方法,其中步骤(c)中,所述的个别基线根据一标准偏差方法从所述的数个基准特征值所得到,所述的标准偏差方法包括下列步骤:计算各个基准特征值分布的标准偏差及平均值;以及以每个基准特征值的统计样本的平均值为一圆心坐标,以所述的基准特征值的统计样本的六个标准偏差为二弦,以所述的二弦的一斜边为半径画圆形成所述的基线。
在本发明的一实施例中提供一种智能设备检测方法,其中步骤(c)中,所述的特征值与个别基线的比对为判断所述的数个特征值相对于所述的个别基线的位置,当所述的数个特征值相对所述的圆心坐标的位置在所述的个别基线范围之内,判断所述的设备的运转状况为正常,当所述的数个特征值相对所述的圆心坐标的位置在所述的基线范围之外,判断所述的设备的运转状况为异常。
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