[发明专利]测试设备的控制方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及测试领域，具体而言，涉及一种测试设备的控制方法和装置。

背景技术

控制器功能测试(FunctionalCircuitTest,简称FCT)采用手工测试，工装功能单一，一种测试工装只能测试一种功能，无法对被测板的多个功能自动进行测试，测试效率低。

针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种测试设备的控制方法和装置，以至少解决现有技术中无法对控制器主板的多个功能自动进行测试的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种测试设备的控制方法，包括：获取对待测试主板进行测试的测试逻辑，其中，所述测试逻辑包括对所述待测试主板的多个功能进行测试的测试顺序；按照所述测试顺序控制用于测试所述待测试主板的所述多个功能的测试设备进行测试。

进一步地，所述测试设备包括多个测试模块，按照所述测试顺序控制用于测试所述待测试主板的所述多个功能的测试设备进行测试包括：获取所述多个测试模块中用于执行测试第一功能的第一测试模块，其中，所述第一功能为所述测试顺序所指示的所述多个功能中的一个；向所述第一测试模块发出控制指令，其中，所述控制指令用于控制所述第一测试模块对所述待测试主板进行测试。

进一步地，在向所述第一测试模块发出控制指令之后，所述方法还包括：接收所述第一测试模块发送的测试结果数据，其中，所述测试结果数据为所述第一测试模块执行测试所述第一功能后得到的；判断所述测试结果数据是否满足预设数值范围；如果判断出所述测试结果数据满足所述预设数值范围，则判断所述第一功能是否为所述测试顺序指示的最后一个功能，并在判断出所述第一功能不是所述测试顺序指示的最后一个功能时，控制所述测试顺序所指示的第二功能所对应的第二测试模块执行测试；在判断出所述第一功能是所述测试顺序指示的最后一个功能时，确定所述待测试主板合格；如果判断出所述测试结果数据不满足所述预设数值范围，则确定所述待测试主板异常。

进一步地，在判断出所述测试结果数据不满足所述预设数值范围之后，并且在确定所述待测试主板异常之前，所述方法还包括：再次向所述第一测试模块发出所述控制指令；接收所述第一测试模块再次发送的测试结果数据；判断所述第一测试模块再次发送的测试结果数据是否满足所述预设数值范围；如果判断出所述第一测试模块再次发送的测试结果数据不满足所述预设数值范围，判断向所述第一测试模块发出所述控制指令的次数是否已经达到阈值；如果判断出向所述第一测试模块发出所述控制指令的次数已经达到所述阈值，确定所述待测试主板异常。

进一步地，所述第一测试模块为所述测试顺序当前位置所指示的测试模块，所述测试模块为以下任意模块：驱动电路测试模块、电机测试模块、电压测试模块、继电器测试模块、通讯测试模块、放电测试模块。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种测试设备的控制装置，包括：获取单元，用于获取对待测试主板进行测试的测试逻辑，其中，所述测试逻辑包括对所述待测试主板的多个功能进行测试的测试顺序；测试单元，用于按照所述测试顺序控制用于测试所述待测试主板的所述多个功能的测试设备进行测试。

进一步地，所述测试设备包括多个测试模块，所述测试单元包括：获取子单元，用于获取所述多个测试模块中用于执行测试第一功能的第一测试模块，其中，所述第一功能为所述测试顺序所指示的所述多个功能中的一个；发送子单元，用于向所述第一测试模块发出控制指令，其中，所述控制指令用于控制所述第一测试模块对所述待测试主板进行测试。

进一步地，所述装置还包括：第一接收单元，用于在向所述第一测试模块发出控制指令之后，接收所述第一测试模块发送的测试结果数据，其中，所述测试结果数据为所述第一测试模块执行测试所述第一功能后得到的；第一判断单元，用于判断所述测试结果数据是否满足预设数值范围第二判断单元，用于如果判断出所述测试结果数据满足所述预设数值范围，则判断所述第一功能是否为所述测试顺序指示的最后一个功能，控制单元，用于在判断出所述第一功能不是所述测试顺序指示的最后一个功能时，控制所述测试顺序所指示的第二功能所对应的第二测试模块执行测试；第一确定单元，用于在判断出所述第一功能是所述测试顺序指示的最后一个功能时，确定所述待测试主板合格；第二确定单元，用于如果判断出所述测试结果数据不满足所述预设数值范围，则确定所述待测试主板异常。