[发明专利]RFID标签性能测试系统

说明书

本发明标签性能测试系统涉及的是一种标签测试系统，特别适合于广大中小RFID系统开发应用企业、科研院所等需要对RFID标签性能进行测试的场合。包括测试仪、读写器、天线、天线固定支架和程控转台，天线固定支架设置在程控转台一侧，天线固定支架上设有滑轨，天线安装在天线固定支架上，所述天线能够沿滑轨上下移动，读写器安装在固定支架底部；天线通过馈线与读写器连接，测试仪通过网线与读写器相连，测试仪通过RS232串行通信接口与程控转台相连；所述测试仪采用工控机，在测试仪上装有RFID标签专用测试模块，测试仪通过该专用测试模块控制程控转台，并读取天线采集到的RFID信号，完成标签性能参数的测试。

技术领域

本发明标签性能测试系统涉及的是一种标签测试系统，特别适合于广大中小RFID系统开发应用企业、科研院所等需要对RFID标签性能进行测试的场合。

背景技术

目前市场上针对RFID标签性能的测试主要通过频谱分析仪等电子仪器来测量完成。而频谱分析仪价格昂贵，应用复杂，加之RFID标签天线的技术参数复杂，在不同的介质材料、不同的距离和角度情况下差异明显，普通开发应用人员难以理解掌握。

发明内容

本发明的目的是针对上述不足之处提供一种RFID标签性能测试系统，利用基于工控机平台的测试仪，通过内置的专用测试程序控制程控转台并读取天线采集到的RFID标签信号后进行分析处理并显示测试结果，从而完成标签性能参数的测试，是一种经济、易用的RFID标签性能测试系统。

RFID标签性能测试系统是采取以下技术方案实现的：

标签性能测试系统包括测试仪、读写器、天线、天线固定支架和程控转台，天线固定支架设置在程控转台一侧，天线固定支架上设有滑轨，天线安装在天线固定支架上，所述天线能够沿滑轨上下移动，读写器安装在固定支架底部；天线通过馈线与读写器连接，测试仪通过网线与读写器相连，测试仪通过RS232串行通信接口与程控转台相连；

所述测试仪采用工控机，在测试仪上装有RFID标签专用测试模块，测试仪通过该专用测试模块控制程控转台，并读取天线采集到的RFID信号，完成标签性能参数的测试。

所述标签性能测试系统还具有电波暗室，测试时将待测RFID标签和RFID标签性能测试系统置于电波暗室中，以减少外界电磁波信号的干扰。

所述RFID标签专用测试模块，包括：

读取距离测试子模块，用于测试读取距离与频率的关系；

写入距离测试子模块，用于测试写入距离与频率的关系；

标签角度特性测试子模块，用于测试不同方向角度所对应的最小响应功率。

所述标签性能测试系统用于读取距离测试、写入距离测试以及标签角度特性测试。

所述读取距离测试子模块的工作过程包括如下步骤：

1）在读取距离测试子模块的读取距离测试界面设置最大频率、最小频率以及测试的频率步长后开始测试；

2）在进行测试时，读取距离测试子模块接收天线传来的每个测试点的数据，并将该数据逐个描绘在Power vs. Frequency图表（即功率vs.频率表）中，所述测试点的数据即每个频率点所对应的最小响应功率；

3）当全部的点都测试过后，读取距离测试子模块将所有的读取距离与频率的关系描绘在Read Range vs. Frequency图表（即读取距离vs.频率表）中；并同时生成FittingPower vs. Frequency图表（即拟合功率vs.频率表）；Fitting Power vs. Frequency图表中显示的数据是Power vs. Frequency图表（即功率vs.频率表）中数据拟合后的结果。

所述写入距离测试子模块的工作过程包括如下步骤：