[发明专利]一种异常处理方法及模块有效
申请号: | 201610081241.2 | 申请日: | 2016-02-04 |
公开(公告)号: | CN107036645B | 公开(公告)日: | 2019-08-06 |
发明(设计)人: | 孙双立 | 申请(专利权)人: | 上海晨兴希姆通电子科技有限公司 |
主分类号: | G01D21/02 | 分类号: | G01D21/02 |
代理公司: | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人: | 成丽杰 |
地址: | 201700 上海市青浦区工业*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 异常 处理 方法 模块 | ||
本发明涉及电子技术领域,公开了一种异常处理方法及模块。本发明中,当一个操作箱发生异常时,判断异常操作箱所在的功能操作组是否仅包含异常操作箱;若仅包含异常操作箱,则判断工件操作系统中是否存在满足预设条件的功能操作组;预设条件为功能操作组包含多个操作箱;若存在满足预设条件的功能操作组,则从功能操作组包含的多个操作箱中选择至少一个操作箱,其中,所述选择的操作箱的数目小于所述功能操作组中包含的操作箱的数目;将选择的操作箱划分至异常操作箱所在的功能操作组。通过这种方式,当有操作箱发生异常时,工件操作系统能够自动地重新配置各操作箱的操作功能,以确保工件操作系统能够完成全项功能操作。
技术领域
本发明涉及自动控制技术领域,特别涉及一种异常处理方法及模块。
背景技术
随着经济的发展,人们对电子产品的可靠性要求越来越高。高可靠性的电子产品通常具有长的使用寿命,能够给使用者提供高的性价比。在半导体行业中,完成半导体芯片的生产之后,通常会对半导体芯片进行许多功能测试,以识别并挑选出坏片,只有通过测试的合格芯片才可以销售使用。芯片测试系统在对芯片进行测试时,常采用测试箱进行测试,一个测试箱对应一个测试功能,测试完成后,各测试箱会将测试结果进行反馈。
然而,在对芯片进行测试时,很可能出现一个测试箱异常,导致芯片测试系统无法对芯片完成全项功能测试的情况,此时则需要技术人员人工对该测试系统中的多个测试箱重新调整,较为费事费力,且降低了芯片测试效率。
发明内容
本发明的目的在于提供一种异常处理方法及模块,当有操作箱发生异常时,工件操作系统能够自动地重新配置各操作箱的操作功能,以确保工件操作系统能够完成全项功能操作。
为解决上述技术问题,本发明的实施方式提供了一种异常处理方法,应用于包含多个功能操作组的工件操作系统,各功能操作组对应于一种功能项操作且各功能操作组包含至少一操作箱,异常处理方法包含以下步骤:当一个操作箱发生异常时,判断异常操作箱所在的功能操作组是否仅包含异常操作箱;若仅包含异常操作箱,则判断工件操作系统中是否存在满足预设条件的功能操作组;预设条件为功能操作组包含多个操作箱;若存在满足预设条件的功能操作组,则从功能操作组包含的多个操作箱中选择至少一个操作箱,其中,所述选择的操作箱的数目小于所述功能操作组中包含的操作箱的数目;将选择的操作箱划分至异常操作箱所在的功能操作组。
本发明的实施方式还提供了一种异常处理模块,包含:应用于包含多个功能操作组的工件操作系统,各功能操作组对应于一种功能项操作,异常处理模块包含:数目判断单元、操作箱选择单元以及组别划分单元;当一个操作箱发生异常时,数目判断单元用于判断异常操作箱所在的功能操作组是否仅包含异常操作箱;若是,数目判断单元还用于判断是否存在满足预设条件的功能操作组;预设条件为功能操作组包含多个操作箱;操作箱选择单元用于从功能操作组包含的多个操作箱中选择至少一个操作箱,其中,选择的操作箱的数目小于功能操作组中包含的操作箱的数目;组别划分单元用于将选择的操作箱划分至异常操作箱所在的功能操作组。
本发明实施方式相对于现有技术而言,当一个操作箱发生异常时,判断异常操作箱所在的功能操作组是否仅包含异常操作箱;若仅包含异常操作箱,则判断工件操作系统中是否存在满足预设条件的功能操作组;预设条件为功能操作组包含多个操作箱;若存在满足预设条件的功能操作组,则从功能操作组包含的多个操作箱中选择至少一个操作箱;将选择的操作箱划分至异常操作箱所在的功能操作组。通过这种方式,当有一个功能操作组的操作箱出现异常,而使得工件操作系统无法完成全项功能操作时,工件操作系统的异常处理模块会自动对该情况进行处理,及时的利用其它功能操作组中的正常操作箱顶替该异常操作箱。即,工件操作系统具有自我调节、修复的功能,能够自动地重新配置各操作箱的操作功能,以确保工件操作系统能够完成全项功能操作。
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