[发明专利]立体物件成型系统及其校正方法有效
申请号: | 201610072685.X | 申请日: | 2016-02-02 |
公开(公告)号: | CN107031035B | 公开(公告)日: | 2019-07-12 |
发明(设计)人: | 周金源;丁明雄 | 申请(专利权)人: | 三纬国际立体列印科技股份有限公司;金宝电子工业股份有限公司 |
主分类号: | B29C64/135 | 分类号: | B29C64/135;B29C64/268;B33Y10/00;B33Y30/00 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;田景宜 |
地址: | 中国台湾新北市深坑*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 立体 物件 成型 系统 及其 校正 方法 | ||
1.一种立体物件成型校正方法,应用于一立体物件成型系统中,该立体物件成型系统,包含一光束产生模块及一平场激光聚焦透镜,其中该光束产生模块提供一线性的成型光束,该线性的成型光束通过该平场激光聚焦透镜后形成一平场激光扫描路径,其特征在于,该立体物件成型校正方法包含:
提供一平场感光件、一控制器及一光感测器,该平场感光件设置于该平场激光扫描路径上,该控制器电连接该平场感光件及该光束产生模块,该光感测器位于该光束产生模块及该平场激光聚焦透镜之间,并电连接于该控制器;
该平场感光件感测通过该平场激光聚焦透镜的光束的一第一光功率,并输出对应的一感光信号予该控制器;
该光感测器感测未通过该平场激光聚焦透镜的该光束的一第二光功率,并产生一光感测信号予该控制器;以及
该控制器依据该感光信号及该光感测信号以调整该光束产生模块产生的该光束的光功率;
其中,当该平场感光件所感测到的该第一光功率低于该光感测器所感测到的该第二光功率时,该控制器判断该平场激光聚焦透镜已经发生老化而发出一警示信号。
2.如权利要求1所述的立体物件成型校正方法,其特征在于,还包含:
该控制器于该感光信号所对应的该光束的光功率大于一操作光功率,且该光束的光功率小于一特定值时,提高该光束产生模块输出的该光束的光功率。
3.如权利要求2所述的立体物件成型校正方法,其特征在于,该控制器于感光信号所对应的该光束的光功率小于该操作光功率时,输出一警示信号。
4.如权利要求2所述的立体物件成型校正方法,其特征在于,该控制器使该光束的光功率维持于该特定值。
5.一种立体物件成型系统,其特征在于,包含:
一透光件,具有一工作区;
一光束产生模块,包含:
一发光单元,输出点光束;
一多面镜,固设于一轴上旋转,用以将所述点光束扩展成为呈线性的成型光束;
一平场激光聚焦透镜,位于该光束产生模块及该透光件之间,所述呈线性的成型光束穿过该平场激光聚焦透镜后形成一平场激光扫描路径,该平场激光扫描路径涵盖该工作区;
一平场感光件,设置于该平场激光扫描路径上,该平场感光件接收穿过该平场激光聚焦透镜的所述呈线性的成型光束形并产生对应于该光束的一第一光功率的一感光信号;
一控制器,电连接于该光束产生模块及该平场感光件;以及
一光感测器,位于该光束产生模块及该平场激光聚焦透镜之间,并电连接于该控制器,该光感测器用以感测未通过该平场激光聚焦透镜的该光束的一第二光功率,并产生一光感测信号;
其中,该控制器接收该感光信号及该光感测信号,并依据该感光信号及该光感测信号以调整该光束产生模块产生的该光束的光功率;
其中,当该平场感光件所感测到的该第一光功率低于该光感测器所感测到的该第二光功率时,该控制器判断该平场激光聚焦透镜已经发生老化而发出一警示信号。
6.如权利要求5所述的立体物件成型系统,其特征在于,立体物件成型系统还包含:
一反射镜,位于该光束产生模块及该光感测器之间;以及
一会聚透镜,位于该光感测器及该反射镜之间;
其中,该控制器依据该感光信号及该光感测信号以调整该光束产生模块产生的该光束的光功率。
7.如权利要求6所述的立体物件成型系统,其特征在于,该平场感光件与该光束产生模块位于该透光件的相同侧。
8.如权利要求5所述的立体物件成型系统,其特征在于,该平场感光件为电荷耦合元件或互补式金属氧化物半导体。
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