[发明专利]磁共振系统的校正方法及装置有效
申请号: | 201610065839.2 | 申请日: | 2016-01-29 |
公开(公告)号: | CN107024670B | 公开(公告)日: | 2020-08-04 |
发明(设计)人: | 李博 | 申请(专利权)人: | 上海联影医疗科技有限公司 |
主分类号: | G01R33/54 | 分类号: | G01R33/54 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201807 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁共振 系统 校正 方法 装置 | ||
1.一种磁共振系统的校正方法,所述磁共振系统包括射频发射模块、梯度模块和射频接收模块,具体包括如下步骤:
执行第一脉冲序列,采集第一组回波信号并获取所述第一组回波信号的频域相位,所述第一脉冲序列为自旋回波序列;
执行第二脉冲序列,采集第二组回波信号并获取所述第二组回波信号的频域相位,所述第二脉冲序列为非选层自旋回波序列;
根据所述第一组回波信号和第二组回波信号的频域相位获取系统相对延时,所述系统相对延时包括射频发射模块与梯度模块的相对延时以及射频接收模块与梯度模块的相对延时;
根据所述系统相对延时对所述磁共振系统进行补偿校正。
2.根据权利要求1所述的磁共振系统的校正方法,其特征在于,所述第一脉冲序列包含90°射频脉冲、随后的两个180°射频脉冲、两个选层梯度、两个读出梯度和一个读出预散相梯度,所述第二脉冲序列包含90°射频脉冲、随后的两个180°射频脉冲、两个读出梯度和一个读出预散相梯度。
3.根据权利要求2所述的磁共振系统的校正方法,其特征在于,所述射频发射模块与所述梯度模块的相对延时正比于所述第一组回波信号与第二组回波信号的频域相位的斜率之差,所述射频接收模块与所述梯度模块的相对延时正比于所述第二组回波信号的频域相位的斜率,所述第一组回波信号的频域相位的斜率为所述第一组回波信号频域相位关于成像体素偏中心距离的一阶导数,所述第二组回波信号的频域相位的斜率为所述第二组回波信号频域相位关于成像体素偏中心距离的一阶导数。
4.根据权利要求2所述的磁共振系统的校正方法,其特征在于,所述第一脉冲序列或第二脉冲序列中的梯度场沿X轴正向。
5.根据权利要求1所述的磁共振系统的校正方法,其特征在于,根据所述系统相对延时对所述磁共振系统进行补偿校正的具体过程为:选定所述梯度模块为参考,根据所述系统相对延时分别校正所述射频发射模块和射频接收模块相对于梯度模块的延时。
6.根据权利要求1所述的磁共振系统的校正方法,其特征在于,根据所述系统相对延时对所述磁共振系统进行补偿校正的具体过程为:根据所述系统相对延时,获取所述射频发射模块和所述射频接收模块的相对延时,并以所述射频接收模块为参考,分别校正所述射频发射模块和梯度模块相对于射频接收模块的延时。
7.根据权利要求1所述的磁共振系统的校正方法,其特征在于,所述第一组回波信号和/或第二组回波信号不包含自由感应衰减信号。
8.根据权利要求1所述的磁共振系统的校正方法,其特征在于,分别计算梯度场沿X轴、Y轴以及Z轴时,所述射频接收模块与所述梯度模块的相对延时或所述射频发射模块与所述梯度模块的相对延时。
9.根据权利要求1所述的磁共振系统的校正方法,其特征在于,根据所述系统相对延时对所述磁共振系统进行补偿校正的具体过程为:
获取梯度模块对应的梯度链路延时;根据所述系统相对延时和梯度链路延时,分别获取射频发射模块对应的发射链路延时和射频接收模块对应的接收链路延时;以及根据所述梯度链路延时、所述发射链路延时和接收链路延时,对所述磁共振系统进行补偿校正。
10.一种磁共振系统的校正装置,包括:
检测单元,用于执行扫描序列并获取回波信号,所述扫描序列包括第一脉冲序列和第二脉冲序列,所述第一脉冲序列为自旋回波序列,用于产生第一组回波信号,所述第二脉冲序列为非选层自旋回波序列,用于产生第二组回波信号;
相对延时获取单元,用于根据所述第一组回波信号和第二组回波信号分别获取第一组回波信号的频域相位的斜率、第二组回波信号的频域相位的斜率,并根据所述第一组回波信号的频域相位的斜率和所述第二组回波信号的频域相位的斜率获取系统相对延时,所述系统相对延时包括所述磁共振系统射频发射模块与梯度模块的相对延时以及射频接收模块与梯度模块的相对延时;
链路延时获取单元,用于获取梯度模块对应的梯度链路延时,并根据所述系统相对延时以及梯度链路延时,获取射频发射模块对应的发射链路延时和射频接收模块对应的接收链路延时;
校正模块,根据所述梯度链路延时、发射链路延时或接收链路延时对磁共振系统扫描参数进行补偿校正。
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