[发明专利]一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的试样的制作方法及片状试样

权利要求书

1.一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的试样的制作方法，其特征在于：具体步骤：

步骤一：采用三片长宽厚分别为10cm×10cm×0.002mm的正方形片状聚酯薄膜；

步骤二：用酒精擦拭正方形片状聚酯薄膜表面，将正方形片状聚酯薄膜放入恒温干燥箱中进行干燥处理；

步骤三：将其中一片正方形片状聚酯薄膜放在平板硫化机工作台上待处理；

步骤四：将其中另一片正方形片状聚酯薄膜的中间挖去一个正方形，形成正方形开口，并在该正方形片状聚酯薄膜的一侧中间位置开一个流出口，再将其放于平板硫化机工作台上的正方形片状聚酯薄膜的上面，使两片正方形片状聚酯薄膜紧密贴合不留有气泡；

步骤五：计算正方形开口的体积得到所需环氧树脂的剂量，用注射器向正方形开口内距离开口外边缘2cm的位置均匀滴加环氧树脂；

步骤六：将最后一片正方形片状聚酯薄膜贴在正方形开口上面，赶出气泡，使正方形片状聚酯薄膜与环氧树脂紧密接触，让剩余的环氧树脂从流出口流出，形成带有分界面的复合绝缘材料试样；

步骤七：采用平板硫化机对复合绝缘材料试样进行加压、加热处理；

步骤八：将处理后的复合绝缘材料试样，以其中心为圆心裁剪成直径为6cm的圆形试样。

2.根据权利要求1所述的一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的试样的制作方法，其特征在于：所述步骤二中干燥处理的时长为24小时。

3.根据权利要求2所述的一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的试样的制作方法，其特征在于：所述步骤四中正方形开口的边长为8cm。

4.根据权利要求3所述的一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的试样的制作方法，其特征在于：所述步骤五中环氧树脂的用量为1mL。

5.根据权利要求4所述的一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的试样的制作方法，其特征在于：所述步骤六中将正方形片状聚酯薄膜贴在正方形开口上面的具体操作为：将正方形片状聚酯薄膜的一条边线与开口内距离注入位置近一侧的外边缘重合，其他各边再相应对齐，从距离滴加位置近的一侧开始向另一侧挤压正方形片状聚酯薄膜。

6.根据权利要求5所述的一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的试样的制作方法，其特征在于：所述步骤七中对试样进行加压、加热处理，在压力为15Mpa，温度为80℃条件下处理4个小时。

7.一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样，其特征在于：它包括第一正方形片状聚酯薄膜(1)、第二正方形片状聚酯薄膜(2)、第三正方形片状聚酯薄膜(3)和环氧树脂填充结构体(4)；所述第一正方形片状聚酯薄膜(1)、第二正方形片状聚酯薄膜(2)和第三正方形片状聚酯薄膜(3)由上至下依次紧密贴合，所述第二正方形片状聚酯薄膜(2)的中心位置开有正方形开口(5)，且第二正方形片状聚酯薄膜(2)的一侧边的中心位置开有流出口(6)，流出口(6)与正方形开口(5)连通，正方形开口(5)内设有环氧树脂填充结构体(4)，所述流出口(6)的宽度为1cm。

8.根据权利要求7所述的一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样，其特征在于：所述第一正方形片状聚酯薄膜(1)、第二正方形片状聚酯薄膜(2)和第三正方形片状聚酯薄膜(3)的边长均为10cm。

9.根据权利要求8所述的一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样，其特征在于：所述第一正方形片状聚酯薄膜(1)、第二正方形片状聚酯薄膜(2)和第三正方形片状聚酯薄膜(3)的厚度均为0.002mm。

10.根据权利要求9所述的一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样，其特征在于：所述正方形开口(5)的边长为8cm。