[发明专利]嵌入式系统的可恢复性度量方法

说明书

一种嵌入式系统的可恢复性度量方法，包括步骤：步骤一，嵌入式系统运行后，启动嵌入式系统的看门狗定时器，向嵌入式系统的当前运行任务注入一个测试文件；步骤二，嵌入式系统运行测试文件；步骤三，判断嵌入式系统运行测试文件后是否引起嵌入式系统的复位，若引起系统复位，则表示当前测试点出错时是可恢复的，否则表示当前测试点存在不可恢复的错误；以及步骤四，通过获取嵌入式系统的当前测试的代码地址和测试结果，分析和计算测试通过率；测试通过率用于度量嵌入式系统的可恢复性。本发明的嵌入式系统的可恢复性度量方法能够在嵌入式系统正常运行时对其出错恢复机制进行测试并度量其嵌入式系统的可恢复性以及测试的有效性。

技术领域

本发明涉及软件测试领域，尤其是一种嵌入式系统的可恢复性度量方法。

背景技术

嵌入式系统是指用于执行独立功能的专用计算机系统，它由包括微处理器、定时器、微控制器、存储器、传感器等一系列微电子芯片与器件，和嵌入在存储器中的微型操作系统、控制应用软件组成，共同实现诸如实时控制、监视、管理、移动计算、数据处理等各种自动化处理任务。嵌入式系统必须根据应用需求对软件、硬件进行裁剪，满足应用系统的功能、可靠性、成本、体积等要求。嵌入式软件是为嵌入式系统服务的，因此要求嵌入式软件要与外部硬件和设备紧密联系。

随着嵌入式计算机技术的迅猛发展，嵌入式系统在各个行业中得到了越来越广泛的应用，目前已经广泛应用于国防、航空航天、医疗等重要行业中，确保它的稳定可靠是极为重要的任务。嵌入式系统的最大特点是以控制为主，软硬结合、功能性操作、以及模块相互间调用较多，外部工作环境复杂容易受到干扰或干扰别的设备，且执行错误的后果不仅仅是数据错误而是有可能导致不可恢复的灾难。随着当前应用系统规模的增大和复杂度的增加，嵌入式系统的可恢复性测试的成本也直线上升，同时也突出了当前所用测试工具和测试方法的局限性。

现有的对嵌入式系统的可恢复性进行测试的方法主要是以人工测试为主，一般是将嵌入式系统置于极端条件下或是模拟的极端条件下，通过人为的各种强制性手段让嵌入式系统的软件或硬件产生故障，然后检测嵌入式系统是否能够得到正确的恢复。由于人工测试需要耗费大量的人力物力，并且测试案例无法覆盖系统中的所有函数，测试有效性低，测试成本高。尤其是无法覆盖嵌入式系统在运行时的抢占性和随机性。采用人工测试的方法无法对嵌入式系统的可恢复性进行度量，也无法对测试的有效性进行度量。

发明内容

本发明的目的在于提供一种嵌入式系统的可恢复性度量方法，该方法能够在嵌入式系统正常运行时对其出错恢复机制进行测试并度量其嵌入式系统的可恢复性以及测试的有效性。

一种嵌入式系统的可恢复性度量方法，包括步骤：

步骤一，嵌入式系统运行后，启动嵌入式系统的看门狗定时器，向嵌入式系统的当前运行任务注入一个测试文件；

步骤二，嵌入式系统运行测试文件；

步骤三，判断嵌入式系统运行测试文件后是否引起嵌入式系统的复位，若引起系统复位，则表示当前测试点出错时是可恢复的，否则表示当前测试点存在不可恢复的错误；以及

步骤四，通过获取嵌入式系统的当前测试的代码地址和测试结果，分析和计算测试通过率；测试通过率用于度量嵌入式系统的可恢复性。

进一步地，测试通过率的计算方法为：Y=S/K，其中Y表示通过率，S表示测试通过的次数，K表示总的测试次数。

进一步地，步骤四还包括分析和计算函数覆盖率的步骤；函数覆盖率的计算方法为：X=N/T，其中X表示覆盖率，N表示进行测试的函数数量，T为总的函数数量；其中，函数通过代码地址获取。

进一步地，步骤四还包括分析和计算代码行覆盖率的步骤；代码行覆盖率的计算方法为：Z=M/P，其中Z表示代码行覆盖率，M表示测试过的指令数量，P表示整个嵌入式系统的汇编指令总数。