[发明专利]一种电子材料中消耗臭氧物质含量的检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种电子材料中消耗臭氧物质含量的检测方法，属于电子电气产品中有毒有害物质检测技术领域。

背景技术

消耗臭氧物质是指破坏大气臭氧层、危害人类生存环境的物质，以下简称ODS。据科学研究表明，工业上大量生产和使用的全氯氟烃、全溴氟烃等物质被释放并上升到平流层时，受到强烈的太阳紫外线UV-C的照射，分解出Cl.自由基和Br.自由基，这些自由基很快与臭氧进行连锁反应，每个Cl.自由基可以摧毁10万个臭氧分子。目前ODS包括下列物质：CFC、哈龙(Halon)、四氯化碳、甲基氯仿溴甲烷以及HCFC、HBFC等含卤化合物。ODS常用于电子线路板、精密金属零部件的清洗剂；灭火系统或手提灭火器中的灭火剂；冰箱、冷冻机、空调等制冷设备中的制冷剂等，其中电子工业材料是ODS的主要产生渠道。

对于电子材料中是否存在消耗臭氧物质以及含量是多少，需要一种方便、快捷的检测方法来检测。

发明内容

针对电子材料中需要检测消耗臭氧物质的含量，本发明提供一种可以快速定量检测电子材料中消耗臭氧物质含量的方法。

本发明包括一种使用带有顶空进样器的气相色谱-质谱联用仪(GC-MS)快速测试电子材料中消耗臭氧物质的含量的简便方法。

附图说明

附图1为本发明实施例的操作流程图。

具体实施方式

下面结合具体的实施例对本发明做进一步的详细说明，所述是对本发明的解释而不是限定。本领域技术人员可由说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的优点与功效。

本发明也可通过其他不同的具体实例加以实施或应用，本说明书中的各项细节亦可基于不同观点与应用。

本发明实施例的操作流程图如附图1所示，在室温条件下称取2g样品于顶空瓶中，精确至±0.1mg，用移液管或其他定量移取装置缓慢加入10ml去离子水作萃取剂，用封瓶器将顶空瓶密封并摇匀待测，采用相同的试剂，在相同的条件下进行空白实验，再配置好标准曲线溶液，用带有顶空进样器的气相色谱-质谱联用仪(GC-MS)定量分析，建立标准曲线后，测定空白、样品溶液，依据每个试样的出峰保留时间和定量离子，由标准曲线查得样品中所含臭氧消耗物质系列所对应的各个物质和浓度。

本发明的样品前处理过程中，加入的萃取剂也可根据样品的不同沸点分别选择其他试剂或不同含量(如加入10ml甲醇；加入10ml乙醇和水的混合物；加入0～5ml的去离子水等)。

上述实施例仅为示例性说明本发明的原理及功效，而并非用于限制本发明。任何本领域的技术人员均可在不违背本发明精神及范畴的前提下，对上述实施进行合理的修饰与变化。因此，本发明的所有权利保护范围，应以权利要求书的范围为依据。