[发明专利]按键型设备自动化测试电路和方法

说明书

技术领域

本发明总体上涉及信息安全产品测试领域。具体地，本发明涉及一 种按键型设备的自动化测试电路和方法。更具体地，本发明涉及一种按 键型通用串行总线(USB)设备的自动化测试电路和方法。

背景技术

按键型USB设备一般由通过带有USB接口的SOC芯片作为主控芯 片。SOC芯片通过检测自身的某个管脚电平的高低来判断相应的某个按 键是否被按下，并在判断按键按下后执行下一步操作。一个现有技术的 带有USB接口的SOC芯片按键检测电路示例如图1所示。SOC芯片的 管脚4(Button1)连接到电阻器R2，再分别经由电阻器R1连接到工作 电压Vcc和经由按键K1连接到地。SOC芯片的管脚7(Botton2)连接 到电阻器R4，再分别经由电阻器R3连接到工作电压Vcc和经由按键 K2连接到地。

当按键K1、K2未被按下时，节点P1、P2的端电压为高电平，SOC 芯片从管脚4(Button1)、管脚7(Button2)检测到高电平。当按键K1、 K2按下时，节点P1、P2的电压被拉低，SOC芯片从管脚4(Button1)、 管脚7(Button2)检测到低电平。当SOC芯片检测到管脚4(Button1)、 管脚7(Button2)的电平变化时，认为按键按下，进而执行后续流程。

目前，按键型USB设备(例如按键型网银U盾)测试一般需要测 试人员手动按键来完成测试流程，难以实现对按键型USB设备的长时间 自动化测试。

发明内容

本发明的一个方面提供了一种按键型设备的自动化测试电路，该按 键型设备包括芯片，该芯片的与第一按键相对应的第一按键管脚连接到 第一节点，该测试电路包括：控制器，该控制器在所述第一节点上施加 高电平或低电平来模拟第一按键的按下或松开操作。通过使用这样的按 键型设备的自动化测试电路，可以避免对测试人员手动按键以完成测试 流程的需要，提高测试效率和可靠性，从而实现对按键型设备的长时间 自动化测试。

本发明的另一个方面提供了一种按键型设备的自动化测试方法，该 按键型设备包括芯片，该芯片的与第一按键相对应的第一按键管脚连接 到第一节点，该测试方法包括：通过控制器在所述第一节点上施加高电 平或低电平来模拟第一按键的按下或松开操作。通过使用这样的按键型 设备的自动化测试方法，可以避免对测试人员手动按键以完成测试流程 的需要，提高测试效率和可靠性，从而实现对按键型设备的长时间自动 化测试。

附图说明

为了更完整地理解本发明及其优势，现在将参考结合附图的以下描 述，其中：

图1示出了现有技术的带有USB接口的SOC芯片按键检测电路示 例。

图2示出了根据本发明实施例的按键型USB设备的自动化测试电路 的示意图。

图3示出了一种不同的按键结构的示意图。

具体实施方式

根据结合附图对本发明示例性实施例的以下详细描述，本发明的其 它方面、优势和突出特征对于本领域技术人员将变得显而易见。

在本说明书中，下述用于描述本发明原理的各种实施例只是说明， 不应该以任何方式解释为限制发明的范围。参照附图的下述描述用于帮 助全面理解由权利要求及其等同物限定的本发明的示例性实施例。下述 描述包括多种具体细节来帮助理解，但这些细节应认为仅仅是示例性的。 因此，本领域普通技术人员应认识到，在不背离本发明的范围和精神的 情况下，可以对本文中描述的实施例进行多种改变和修改。此外，为了 清楚和简洁起见，省略了公知功能和结构的描述。