[发明专利]显示面板检测结构

说明书

技术领域

本发明属于显示技术领域，具体涉及一种显示面板检测结构。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,简称TFT-LCD)具有体积小、功耗低、无辐射等特点，近年来得到了迅速地发展，在当前的平板显示器市场中占据了主导地位。

目前TFT-LCD生产过程包括，将制作好的阵列基板和彩膜基板利用封框胶贴合在一起，形成一个完整闭合的显示面板(Panel)，在形成显示面板后进行显示面板的检测，其中包括采用显示面板检测结构对显示面板进行检测。

如图1所示，通过显示面板显示区Q1和位于显示区Q1外侧的连接区Q2(lead区)；其中，在显示区Q1设置有多条交叉设置的栅线20和数据线10。假若该显示面板为单边驱动显示面板，为了给栅线20和数据线10加载信号，栅线20和数据线10各自的一端均延伸至连接区Q2，以用于加载信号。但是，在为各个栅线20和数据线10输入显示信号之前，还要对栅线20和数据线10的质量进行检测，以判断这些信号线是否存在不良。接下来，以对数据线10是否存在不良进行检测的检测结构为例进行说明。

数据线10不良的检测结构通常采用短路条30(Shorting Bar)，其中，短路条30设置在检测区Q3，而检测区Q3则设置在显示面板的连接区Q2区的外侧，连接区Q2设置在显示区Q1的外侧。对于单个显示面板(single panel)通常采用6D Shorting Bar，即将数据线10分成6组每一组通过一条短路条30短接在一起。之后采用Block Pin(检测探针)与信号引入区的数据线10进行连接(一个检测探针连接一条数据线10)，将信号加载至数据线10中，此时尽管个别检测探针出现Pin Miss(检测探针没有与数据线10对应连接)的情况，由于一组数据线10是通过Shorting Bar短接在一起的，被Pin Miss的数据线10也会通过和其短接的数据线10将信号引入至该数据线10中，以完成数据线10不良的检测。

但是，发明人发现现有技术中至少存在如下问题：1、在点反转、列反转驱动时，两相邻的数据线10中的驱动电压极性相反，而一旦两相邻的Block Pin发生电路，必然会造成电流过大烧毁数据线10，或者其他信号线加载出现异常；2、Block Pin数量众多，且很小，这样极易造成Block Pin与数据线10连接时划伤显示面板。

发明内容

本发明所要解决的技术问题包括，针对现有的显示面板检测结构存在的上述问题，提供一种避免显示面板出现烧伤和划伤问题的显示面板检测结构。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示面板检测结构，用于检测显示面板上的信号线；其中，所述信号线至少包括多条数据线，将多条所述数据线分成N组，所述显示面板检测结构包括设置在显示面板检测区的N条第一短路条，每一条所述第一短路条用于将一组数据线短接在一起，所述显示面板检测结构还包括：设置在所述检测区的多个第一测试焊盘，每一个第一测试焊盘连接一条所述第一短路条，所述第一测试焊盘用于在检测时，将检测信号引入至所述数据线中。

优选的是，所述N为2。

进一步优选的是，位于奇数位置的所述数据线连接同一条第一短路条；位于偶数位置的所述述数据线连接同一条第一短路条。

优选的是，每一条所述第一短路条的电阻为12至15欧姆。

优选的是，两相邻的所述第一测试焊盘之间的距离大于两相邻数据线之间的距离。

优选的是，所述显示面板上还包括相对设置的两个栅极驱动电路；所述信号线还包括为栅极驱动电路加载信号的多条信号引入线；所述显示面板检测结构还包括：设置在检测区的多条第二短路条，以及与第二短路条一端连接的第二测试焊盘；其中，

每一条所述第二短路条，用于将多条所述信号引入线中加载同样信号的信号引入线短接在一起；

所述第二测试焊盘，用于在检测时，将测试信号引入至所述信号引入线中。

进一步优选的是，所述显示面板检测结构还包括：与所述第一测试焊盘尺寸相同且同侧设置的冗余第一测试焊盘，以及与所述第二测试焊盘尺寸相同且同侧设置的冗余第二测试焊盘；其中，所述第一测试焊盘和冗余第一测试焊盘与第二测试焊盘所在位置和所述冗余第二测试焊盘所在位置沿Y轴对称。

进一步优选的是，每一条所述第二短路条的电阻为27至50欧姆。