[发明专利]一种亚像素单元线宽的测量方法及装置

说明书

本发明涉及显示技术领域，公开一种亚像素单元线宽的测量方法及装置，亚像素单元线宽的测量方法包括：扫描显示基板的图像；根据图像的灰度信息获取待测亚像素单元的边缘位置；获取该待测亚像素单元的边缘位置处的色度值，根据色度值判断该待测亚像素单元的边缘位置是否正确；若该待测亚像素单元的边缘位置正确，则根据该边缘位置得到待测亚像素单元的线宽；若该待测亚像素单元的边缘位置不正确，则根据图像的灰度信息重新获取待测亚像素单元的边缘位置，直至对获取的待测亚像素单元的边缘位置的判断结果为正确。本发明的亚像素单元线宽的测量方法可以提高亚像素单元线宽测量的准确性。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其是涉及一种亚像素单元线宽的测量方法及装置。

背景技术

彩膜基板的像素中，每一个亚像素单元(红色亚像素单元R、绿色亚像素单元G、蓝色亚像素单元B)的线宽(CD)是一项需要重点监控的特性值，传统测量亚像素单元线宽的方法为：扫描彩膜基板上待测亚像素单元区域的图像，根据图像的灰度值变化情况得到待测亚像素单元的边缘位置，然后通过对获得的边缘位置进一步进行计算得到待测亚像素单元的线宽；上述方法中，由于扫描区域内往往存在多个亚像素单元，且每一个亚像素单元的边缘位置处的灰度值变化较相似，因此，在寻找待测亚像素的边缘位置时，很容易出现错误，且一般会将与待测亚像素相邻的其它亚像素单元的边缘位置确定为待测亚像素的边缘位置，所依，根据待测亚像素单元区域内的灰度值变化情况得出的待测亚像素单元的边缘位置往往不正确，进而，导致最终得到的待测亚像素单元的线宽(CD)不正确。

发明内容

本发明提供了一种亚像素单元线宽的测量方法及装置，用以提高亚像素单元线宽测量的准确性。

为达到上述目的，本发明提供以下技术方案：

一种亚像素单元线宽的测量方法，包括：

扫描显示基板的图像，获取所述图像的灰度信息；

根据所述图像的灰度信息获取待测亚像素单元的边缘位置；

获取所述待测亚像素单元的边缘位置处的色度值，且根据所述待测亚像素单元的边缘位置处的色度值判断所述待测亚像素单元的边缘位置是否正确；

若所述待测亚像素单元的边缘位置正确，则根据所述待测亚像素单元的边缘位置得到待测亚像素单元的线宽；

若所述待测亚像素单元的边缘位置不正确，则根据所述图像的灰度信息重新获取待测亚像素单元的边缘位置，直至对获取的待测亚像素单元的边缘位置的判断结果为正确；其中，重新获取的待测亚像素单元的边缘位置与在此之前获取的待测亚像素单元的边缘位置不相同。

本发明的彩膜基板的像素单元线宽测量方法中，首先通过显示基板中待测亚像素单元区域内的图像的灰度信息来获得待测亚像素单元的边缘位置，然后通过分析该待测亚像素单元的边缘位置处的色度值以判断该待测亚像素单元的边缘位置是否正确，即判断该边缘位置是否为原测量目标的像素单元的边缘位置；当判断结果为该边缘位置即为原测量目标的像素单元的边缘位置后，再根据该边缘位置计算待测亚像素单元的线宽；如果判断结果为该边缘位置不是原测量目标的像素单元的边缘位置，则需根据上述图像的灰度信息在此次获取的边缘位置的基础上重新确定待测亚像素单元的边缘位置。

相比于传统根据灰度信息得到待测亚像素单元的边缘位置后直接采用该边缘位置计算待测亚像素单元的线宽的方法，本发明的彩膜基板的像素单元线宽测量方法中增加了对获得的边缘位置进行判断的步骤，并只有在判断结果正确时才利用该边缘位置进行计算待测亚像素单元的线宽，所以，利用本发明的彩膜基板的像素单元线宽测量方法得到的待测亚像素单元的线宽会更加准确。因此，本发明的线宽测量方法可以提高像素单元线宽测量的准确性。

优选地，根据所述图像的灰度信息重新获取待测亚像素单元的边缘位置，包括：根据所述图像的灰度信息在前一次获取的待测亚像素单元的边缘位置与待测亚像素单元之间的区域重新获取待测亚像素单元的边缘位置。