[发明专利]检测缓冲垫的变形的系统及其制造方法

权利要求书

1.一种检测缓冲垫的变形的系统，其包含：

缓冲垫及检测由该缓冲垫的变形所引起的电或磁性变化的检测部，所述缓冲垫包含分散有具有导电性或磁性的填料的基质层和在一部分嵌入了该基质层的软质聚氨酯发泡体；

其特征在于，所述基质层的硬度小于软质聚氨酯发泡体的硬度。

2.根据权利要求1所述的检测缓冲垫的变形的系统，其中，所述基质层为含有气泡的发泡体。

3.根据权利要求2所述的检测缓冲垫的变形的系统，其中，所述基质层具有20～80体积％的气泡含有率。

4.根据权利要求2或3所述的检测缓冲垫的变形的系统，其中，所述基质层的平均气泡直径为50～300μm。

5.根据权利要求2至4中任一项所述的检测缓冲垫的变形的系统，其中，所述基质层的平均气泡开口直径为15～100μm。

6.根据权利要求2至5中任一项所述的检测缓冲垫的变形的系统，其中，所述基质层的独立气泡率为5～70％。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的检测缓冲垫的变形的系统，其中，所述缓冲垫为座椅用缓冲垫，检测的变形为人的就座状态。

8.一种检测缓冲垫的变形的系统的制造方法，所述制造方法包括下述步骤，即将具有导电性或磁性的填料分散在聚氨酯前体溶液中的步骤、固化所述聚氨酯前体溶液以形成分散有填料的基质层的步骤、在缓冲垫用模具中配设所述基质层的步骤、注入软质聚氨酯发泡体原液的步骤、使所述软质聚氨酯发泡体原液发泡以形成缓冲垫的步骤、以及将该缓冲垫与检测由变形所引起的电或磁性变化的检测部组合的步骤，其特征在于经固化的所述基质层的硬度小于软质聚氨酯发泡体的硬度。

9.根据权利要求8所述的检测缓冲垫的变形的系统的制造方法，其中，所述基质层为含有气泡的发泡体。

10.根据权利要求9所述的检测缓冲垫的变形的系统的制造方法，其中，所述基质层具有20～80体积％的气泡含有率。

11.根据权利要求9或10所述的检测缓冲垫的变形的系统的制造方法，其中，所述基质层的平均气泡直径为50～300μm。

12.根据权利要求9至11中任一项所述的检测缓冲垫的变形的系统的制造方法，其中，所述基质层的平均气泡开口直径为15～100μm。

13.根据权利要求9至12中任一项所述的检测缓冲垫的变形的系统的制造方法，其中，所述基质层的独立气泡率为5～70％。