[发明专利]空间杀菌装置及空间除臭装置有效
| 申请号: | 201580043868.2 | 申请日: | 2015-09-11 |
| 公开(公告)号: | CN106659811B | 公开(公告)日: | 2019-11-19 |
| 发明(设计)人: | 千草尚;森田修介;高桥健;大川猛;松田秀三;柳泽正 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
| 主分类号: | A61L2/20 | 分类号: | A61L2/20;A23L3/3481;A61L9/01;A61L9/04;A61L9/14;G01N21/78 |
| 代理公司: | 72002 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 王灵菇;白丽<国际申请>=PCT/JP2 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 空间 杀菌 装置 除臭 | ||
1.一种空间杀菌装置,其包含:
向被处理空间供给气状和/或雾状的次氯酸溶液的次氯酸溶液供给部、和
包含具有用于采集所述被处理空间内的所述气状和/或雾状的次氯酸溶液的容器的次氯酸溶液采集部、且由采集到所述容器中的次氯酸溶液测定所述被处理空间内中的次氯酸浓度的测量系统,
根据所述测量系统的测量结果,使所述被处理空间中的所述次氯酸浓度为400ppb~500ppm。
2.根据权利要求1所述的空间杀菌装置,其中,次氯酸溶液供给部包含使次氯酸溶液成为气状的气化装置或成为雾状的喷雾装置。
3.根据权利要求1或2所述的空间杀菌装置,其中,用于测量所述被处理空间中的所述次氯酸浓度的测量系统进一步包含收纳在所述容器内且与所述次氯酸反应而发光的荧光试剂和发光强度测量部,根据发光强度算出所述次氯酸浓度。
4.根据权利要求3所述的空间杀菌装置,其中,所述荧光试剂为氨基苯基荧光素试剂。
5.根据权利要求1所述的空间杀菌装置,其中,用于测量所述被处理空间中的所述次氯酸浓度的测量系统进一步包含收纳在所述容器内的纯水、和用于测量从所述容器回收的纯水中的有效氯浓度的有效氯浓度计。
6.根据权利要求5所述的空间杀菌装置,其中,所述有效氯浓度计使用碘吸光光度法或DPD法、通过反应使所回收的纯水中的次氯酸显色,从而测定有效氯浓度,基于所述有效氯浓度算出次氯酸浓度。
7.根据权利要求1或2所述的空间杀菌装置,其中,所述被处理空间中的所述次氯酸浓度为500ppb~200ppm。
8.根据权利要求1或2所述的空间杀菌装置,其中,所述次氯酸溶液中的pH为7以下。
9.根据权利要求1或2所述的空间杀菌装置,其具备将被处理空间内的空气吸入的吸气装置、及与所述吸气装置和所述次氯酸溶液供给部连接、将通过所述吸气装置导入的空气用所述气状和/或雾状的次氯酸溶液进行杀菌的杀菌部。
10.根据权利要求1或2所述的空间杀菌装置,其中,杀菌处理时间y与每单位面积、单位时间所供给的次氯酸干雾供给量x的关系满足下式(1),其中,时间y的单位为小时,次氯酸干雾供给量x的单位为μg/(m2·分钟);
y≥16.217x-1.384 (1)。
11.一种空间除臭装置,其包含:
向被处理空间供给气状和/或雾状的次氯酸溶液的次氯酸溶液供给部、和
包含具有用于采集所述被处理空间内的所述气状和/或雾状的次氯酸溶液的容器的次氯酸溶液采集部、且由采集到所述容器中的次氯酸溶液测定所述被处理空间内中的次氯酸浓度的测量系统,
根据所述测量系统的测量结果,使所述被处理空间中的所述次氯酸浓度为400ppb~500ppm。
12.根据权利要求11所述的空间除臭装置,其中,次氯酸溶液供给部包含使次氯酸溶液成为气状的气化装置或成为雾状的喷雾装置。
13.根据权利要求11或12所述的空间除臭装置,其中,用于测量所述次氯酸浓度的测量系统进一步包含收纳在所述容器内且与所述次氯酸反应而发光的荧光试剂,和发光强度测量部,根据发光强度算出所述次氯酸浓度。
14.根据权利要求13所述的空间除臭装置,其中,所述荧光试剂为氨基苯基荧光素试剂。
15.根据权利要求11所述的空间除臭装置,其中,用于测量所述被处理空间中的所述次氯酸浓度的测量系统进一步包含收纳在所述容器内的纯水、和用于测量从所述容器回收的纯水中的有效氯浓度的有效氯浓度计。
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