[发明专利]射频测试座及测试探针

说明书

一种射频测试座及测试探针。射频测试座包括输入引脚(101)、金属弹片(102)、输出引脚(103)、外壳(104)及金属台面(105)；金属弹片(102)与输入引脚(101)连接；金属弹片(102)与所述输出引脚(103)接触连接；金属弹片(102)具有磁性材料；金属弹片(102)的磁性材料的极性与测试探针的磁性材料的极性相反。该实施例可保证射频测试座的弹片与各部件的连接可靠性。

技术领域

本发明实施例涉及射频测试技术，尤其涉及一种射频测试座及测试探针。

背景技术

无线终端内部通常都会配置射频测试座，作为测试连接器以对该无线终端的印制电路板(Printed Circuit Board，简称PCB)上的一个电路进行测试。在正常情况下，该射频电路通过弹片与该PCB上的其他电路连接。当对该一个电路进行测试时，可通过断开该弹片与该其他电路的连接，将该弹片与测试仪连接，使得该一个电路与该测试仪连接，从而通过该测试仪对该一个电路进行测试。

通常可将测试探针插入该射频测试座顶部的测试孔中，按压该测试探针，使得该弹片与该其他电路的连接断开，该测试探针与该弹片接触。在PCB制造过程中，回流焊和/或波峰焊等阶段的助焊剂以及粉尘颗粒，会通过该开孔进入该射频测试座的内部，从而在该弹片上形成助焊剂层。

然而，该弹片上的助焊剂层可能会使得该弹片与各部件的连接不可靠。

发明内容

本发明实施例提供一种射频测试座及测试探针，以解决现有技术中射频测试座的弹片与各部件连接不可靠的问题。

第一方面，本发明实施例提供一种射频测试座，所述射频测试座包括输入引脚、金属弹片、输出引脚、外壳及金属台面；其中，所述金属弹片与所述输入引脚连接；所述金属弹片与所述输出引脚接触连接；所述外壳与所述金属台面之间存在绝缘层；所述金属弹片的长度为根据所述金属弹片与所述金属台面间的距离，和所述金属弹片与所述金属台面的夹角确定的；所述金属弹片粘附有磁性材料；所述金属弹片的磁性材料的极性与测试探针的磁性材料的极性相反。

根据第一方面，在第一方面的第一种可能实现的方式中，所述金属弹片背离所述金属台面的一面具有磁性材料。

根据第一方面或第一方面的第一种可能实现的方式，在第二种可能实现的方式中，所述金属弹片向所述金属台面的一面具有突起部。

第二方面，本发明实施例提供一种测试探针，包括针套、针芯；所述针套为所述测试探针的接地壳；所述针套套设在所述针芯的外部；所述针芯与所述针套之间具有磁性材料；其中，所述测试探针的磁性材料与射频测试座的金属弹片的磁性材料的极性相反。

根据第二方面，在第二方面的第一种可能实现的方式中，所述测试探针还包括：法兰；所述法兰位于所述针套的外部；所述法兰包括至少一个通孔；

所述至少一个通孔，用于对所述测试探针进行固定，并安装在夹具上。

根据第二方面或第二方面的第一种可能实现的方式，在第二种可能实现的方式中，所述针芯与所述针套之间距离所述针芯的针头预设距离的范围内具有磁性材料。

本发明实施例射频测试座及测试探针，可通过在金属弹片上设置磁性材料，当配置相反极性的磁性材料的测试探针接触金属台面时，该金属弹片的磁性材料与该测试探针的磁性材料之间即可产生相互吸引的磁力，从而使得金属弹片与金属台面连接，使得测试探针通过该金属台面与该金属弹片连接，形成测试通路。该射频测试座的金属弹片与测试探针通过磁力连接，而无需通过金属台面的开孔的插入该射频测试座，因而，该金属台面无需配置开孔，助焊剂和/或粉尘颗粒无法进入该射频测试座的内部，从而保证射频测试座的该金属弹片与各部件连接的可靠性。

附图说明