[实用新型]一种轴类检测工具的灵敏度校准平台

说明书

技术领域

本实用新型涉及轴类检测辅助装置，尤其是指一种轴类检测工具的灵敏度校准平 台。

背景技术

在许多领域中应用到的轴类工件在加工完成后都需要采用轴类检测工具对轴类 工件进行超声波检测。现有的轴类检测工具包括扫查装置和探头，其中扫查装置为通 用仪器，而探头则是根据不同的轴类工件的工况选用对应的探头，并将选定的探头安 装于扫查装置上，来对轴类工件进行扫查检测。

通常在对轴类工件进行超声波检测之前，都需要对轴类检测工具进行灵敏度校 准，通过校准设定使轴类检测工具达到检测要求的灵敏度。目前，轴类检测工具的灵 敏度校准通常是将试块放置在工作台上，工作人员手持探头在试块上移动扫查，来检 测探头的灵敏度并进行灵敏度的校准。

但是，在手持探头进行标定灵敏度的过程中，由于手持探头进行扫查时对探头施 加的压力与扫查装置扫查过程中对探头施加的压力会有偏差，而压力不同则耦合状况 不同，导致灵敏度会有所变化；另外扫查装置在轴类工件的正上方、侧面、正下方等 位置时由于自身重力的影响导致对轴类工件施加的压力也有所不同，如果仅仅是使用 手动的方法进行灵敏度校准，那么在使用扫查装置时，实际检测灵敏度会有较大的起 伏。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种能降低人为因素及轴类检测工具本身的重力对探 头的灵敏度校准造成影响的轴类检测工具的灵敏度校准平台。

为达到上述目的，本实用新型提供了一种轴类检测工具的灵敏度校准平台，用于 承载被检测的试块，其特征在于，所述轴类检测工具的灵敏度校准平台包括支架和横 向设置在所述支架上的圆筒，所述圆筒与所述支架铰接，所述圆筒的外壁上设有至少 一个能容纳所述试块的容置部，所述容置部的深度等于所述试块的厚度，所述圆筒的 外壁与所述试块的外表面具有相同的曲率。

如上所述的轴类检测工具的灵敏度校准平台，其中，所述支架包括横向设置的呈 矩形的底部框架和分别从所述底部框架的两端向上延伸设置的两纵向框架，所述圆筒 安装于两所述纵向框架之间，所述圆筒的两端分别与两所述纵向框架转动连接。

如上所述的轴类检测工具的灵敏度校准平台，其中，所述底部框架由两根相互平 行的侧边横杆和与两根所述侧边横杆垂直的两根端部横杆围合而成，所述纵向框架包 括两纵杆及一顶部横杆，每个所述纵向框架中，两所述纵杆的下端分别连接于对应的 所述端部横杆的两端，且两所述纵杆的上端通过所述顶部横杆连接，每个所述纵向框 架的两所述纵杆之间的距离由下至上逐渐变小。

如上所述的轴类检测工具的灵敏度校准平台，其中，所述圆筒的两端与对应的所 述纵向框架之间均通过圆筒端头连接，所述圆筒端头包括能拆装的连接于所述圆筒的 端部的圆盘部、以及由所述圆盘部的圆心处朝向对应的所述纵向框架延伸形成的连接 轴，所述圆筒通过两所述连接轴与两所述纵向框架转动连接。

如上所述的轴类检测工具的灵敏度校准平台，其中，两所述顶部横杆上设有能分 别拆装的轴承座，两所述轴承座分别位于对应的所述顶部横杆的中央，且两所述轴承 座的轴线与所述圆筒的轴线以及两所述连接轴的轴线重合，两所述连接轴能转动的插 入对应的所述轴承座中，并且两所述连接轴上均旋接有能阻止所述圆筒转动的紧固螺 母。

如上所述的轴类检测工具的灵敏度校准平台，其中，两所述顶部横杆上分别设有 供对应的所述连接轴贯穿的通孔，两所述通孔分别位于对应的所述顶部横杆的两端中 间，且两所述通孔的轴线与所述圆筒的轴线以及两所述连接轴的轴线重合，两所述连 接轴能转动的插入对应的所述通孔中，并且两所述连接轴上均旋接有能阻止所述圆筒 转动的紧固螺母。

如上所述的轴类检测工具的灵敏度校准平台，其中，所述底部框架的下方能拆装 的设有多个滚轮，多个所述滚轮均匀分布在所述底部框架的下方。

如上所述的轴类检测工具的灵敏度校准平台，其中，所述滚轮上设有能阻止所述 滚轮转动的定位结构。

如上所述的轴类检测工具的灵敏度校准平台，其中，所述试块通过螺钉能拆装的 固定在所述圆筒上。

如上所述的轴类检测工具的灵敏度校准平台，其中，所述试块上凹设有模拟缺陷 结构，所述模拟缺陷结构呈圆孔状、条形状或环形状。

与现有技术相比，本实用新型的优点如下：