[实用新型]组合式线圈检具

说明书

技术领域：

本实用新型属于线圈检具领域，特别是涉及一种组合式线圈检具。

背景技术：

线圈通常由金属丝绕制而成，在其生产过程的控制中，需要对线圈尺寸进行极为 严格的管控，如线圈的内径，线圈的中心尺寸，线圈中心到两端的尺寸以及两端的长度等尺 寸，均会对最终产品的线圈性能有至关重要的影响。

目前现有技术中在进行线圈尺寸检验时，通常为人工采用普通量具进行检验，需 要2套检具和高度尺配合分别测量中心到两端的长度以及两端的长度。而中心尺寸和内径 需要专用检具用二次元投影测量。测量时间较长，难以满足生产需要。这种测量方式采用的 量具仪器众多且测量不够精准，此外此种测量方法会耗费大量人力工时，使用的普通检具 尺寸不好掌握且制作困难，针对同一类型的线圈在检测尺寸时不能做到快速高效的一目了 然，因此太多的无附加值作业造成较大的成本浪费。

实用新型内容：

本实用新型克服现有技术存在的不足，解决了现有检测方式测量精度低，测量时 间长以及测量效率低的问题，旨在提供一种组合式线圈检具，该组合式线圈检具能够快速 一目了然的检测出线圈尺寸是否符合标准，测量时间短，测量效率高。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：组合式线圈检具，包括定位 轴、上块和底座，定位轴的最大外径为线圈内径的标准尺寸；

所述底座包括底座基体，底座基体的中心处开设有与定位轴相适应的底座滑孔， 底座基体的上表面设置有下中心定位片，底座滑孔一侧的底座基体上开设有底座基准尺寸 孔，所述底座基准尺寸孔中下部的底座基体上预设有下中心高度测量槽；

所述上块包括上块基体，上块基体的中心处开设有与定位轴相适应的上块滑孔， 上块基体的下表面设置有上中心定位片，上块滑孔一侧的上块基体上开设有上块中心尺寸 孔，所述上块中心尺寸孔中上部的上块基体上预设有上中心高度测量槽。

进一步地，所述定位轴的截面形状包括按照正四边形分布的四个直线段，四个直 线段之间均通过弧线段连接，四个弧线段的圆心位置和弧线段的直径均相同，其中一个直 线段的中部内凹形成固定槽。

进一步地，上块套装在定位轴上端，上中心定位片和下中心定位片分别位于定位 轴的两端。

本实用新型与现有技术相比具有以下有益效果：本实用新型利用定位轴、上块和 底座的组合，在上块和底座上均设置有上下中心定位片，利用上下中心定位片以及底座基 准尺寸孔和上块中心尺寸孔可以测量线圈中心到两端的尺寸以及两端的长度。该检具通过 简单零件的组合，可直观快速的一次性检验线圈的所有尺寸，大幅度缩短了检验时间，减少 了人为测量带来的误差和无操作；同时由于检具是分体组合式，当其中某一零件出现损坏 时不需更换整套检具，可大大节约成本，同时降低了检具制作加工难度。

附图说明：

下面结合附图对本实用新型做进一步详细的说明；

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为上块的结构示意图；

图3为底座的结构示意图；

图4为定位轴的截面结构示意图。

图中：1为定位轴，11为直线段，12为弧线段，13为固定槽，2为上块，21为上块基体， 22为上块滑孔，23为上中心定位片，24为上块中心尺寸孔，25为上中心高度测量槽，3为底 座，31为底座基体，32为底座滑孔，33为下中心定位片，34为底座基准尺寸孔，35为下中心高 度测量槽。

具体实施方式：

如图1-图4所示，组合式线圈检具，包括定位轴1、上块2和底座3，定位轴1的最大外 径为线圈内径的标准尺寸。

所述底座3包括底座基体31，底座基体31的中心处开设有与定位轴1相适应的底座 滑孔32，底座基体31的上表面设置有下中心定位片33，底座滑孔32一侧的底座基体31上开 设有底座基准尺寸孔34，所述底座基准尺寸孔34中下部的底座基体31上预设有下中心高度 测量槽35。

所述上块2包括上块基体21，上块基体21的中心处开设有与定位轴1相适应的上块 滑孔22，上块基体21的下表面设置有上中心定位片23，上块滑孔22一侧的上块基体21上开 设有上块中心尺寸孔24，所述上块中心尺寸孔24中上部的上块基体21上预设有上中心高度 测量槽25，底座基准尺寸孔34和上块中心尺寸孔24的直径与绕成线圈的金属丝直径相适 应。