[实用新型]一种用于荧光分光光度计的固体样品架

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种材料测试分析技术领域，尤其是涉及一种用于荧光分光光度计的固体样品架。

背景技术

荧光分光光度计是可用于测试荧光标记物所发出的荧光光谱的一种仪器。其能提供包括激发光谱、发射光谱以及荧光强度、量子产率、荧光寿命、荧光偏振等许多物理参数，从各个角度反映了材料的荧光性能、分子的成键和结构情况。通过对这些参数的测定，不但可以做一般的定量分析,而且还可以推断分子在各种环境下的构象变化，从而阐明分子结构与功能之间的关系。荧光分光光度计的激发波长扫描范围一般是190～650nm，发射波长扫描范围是200～800nm。可用于液体的光谱扫描。

荧光分光光度计的基本原理是，由高压汞灯或氙灯发出的紫外光和蓝紫光经滤光片照射到样品池中，激发样品中的荧光物质发出荧光，荧光经过滤过和反射后，被光电倍增管所接受，然后以图或数字的形式显示出来。

物质荧光的产生是由在通常状况下处于基态的物质分子吸收激发光后变为激发态,这些处于激发态的分子是不稳定的,在返回基态的过程中将一部分的能量又以光的形式放出，从而产生荧光。

不同物质由于分子结构的不同,其激发态能级的分布具有各自不同的特征，这种特征反映在荧光上表现为各种物质都有其特征荧光激发和发射光谱，因此可以用荧光激发和发射光谱的不同来定性地进行物质的鉴定。

在溶液中，当荧光物质的浓度较低时,其荧光强度与该物质的浓度通常有良好的正比关系,即IF＝KC,利用这种关系可以进行荧光物质的定量分析,与紫外-可见分光光度法类似，荧光分析通常也采用标准曲线法进行。

目前，市场上主流的荧光分光光度计主要设计来测试液体样品，设备所配备的都是液体样品架，在实际使用过程中，也可以用荧光分光光度计测试粉末样品，但是，由于荧光分光光度计没有配备固体样品架，需要单独购买或制作固体样品架，价格昂贵；且现有的固体样品架大都是针对某一型号的荧光分光光度计，没有通用性，另外，固体样品架在放入样品池中时需要调整固体样品架的放置角度，使高压汞灯或氙灯发出的紫外光和蓝紫光能够照射到固体样品上使固体样品发出荧光并能被光电倍增管所接受，由于现有的固体样品架没有固定底座，在使用时都是直接放入样品池中，然后人为的调整期放置位置和角度，而试验通常都会进行多组，人为的放置和调整使得固体样品架的放置位置和角度都不一致，这会使得多组测量结果误差较大，最终得到的测试结果不够精确。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种通用性好，价格便宜，且在进行多次重复试验时能够减小测量误差的用于荧光分光光度计的固体样品架。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：该用于荧光分光光度计的固体样品架，包括支撑柱、固定底座，所述支撑柱具有一个安装平面，所述安装平面的中部设置有样品固定板，所述样品固定板的内表面与安装平面相接触，样品固定板的外表面设置有凹槽，所述安装平面的上部固定有上挡块，下部固定有下挡块，上挡块的下表面设置有第一卡槽，下挡块的上表面设置有第二卡槽，样品固定板的上端卡在第一卡槽内，下端卡在第二卡槽内，所述固定底座包括基座，所述基座上设置有圆形凹坑，所述圆形凹坑内设置有圆形转盘，所述圆形转盘通过转轴固定在圆形凹坑底部，所述圆形转盘的上表面中心位置设置有与支撑柱底部相匹配的插槽，所述支撑柱的底部插入插槽内，所述圆形转盘的上表面设置有定位线槽，所述定位线槽的延伸方向与安装平面互相垂直且与圆形转盘的中心轴线相交，所述基座上设置有用于限制圆形转盘转动的锁紧装置。

进一步的是，所述第一卡槽贯穿上挡块的下表面，第二卡槽贯穿下挡块的上表面。

进一步的是，所述支撑柱为三棱柱且三棱柱的横截面为等腰三角形。

进一步的是，所述基座的底部设置有吸盘。

进一步的是，所述圆形凹坑的边缘设置有一圈角度刻度线。

进一步的是，所述锁紧装置为锁紧螺母。

进一步的是，所述支撑柱采用铁块制作而成。