[实用新型]新型光臂放大式二维线性测头有效

专利信息
申请号: 201520771429.0 申请日: 2015-09-30
公开(公告)号: CN204988188U 公开(公告)日: 2016-01-20
发明(设计)人: 张白;康学亮 申请(专利权)人: 北方民族大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 四川力久律师事务所 51221 代理人: 林辉轮
地址: 750021 宁夏回族*** 国省代码: 宁夏;64
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摘要:
搜索关键词: 新型 放大 二维 线性
【权利要求书】:

1.一种新型光臂放大式二维线性测头,其特征在于,包括:

两个激光源,用于发射两条激光束,即激光源一(11)发射激光束一(21),激光源二(12)发射激光束二(22);

测头基座(4),包括至少两个反射面,用于反射每个所述激光源发射的激光束,所述测头基座上设有用于检测的测杆(6)和测球(7);

两个光电探测器,即光电探测器一(31)、光电探测器二(32),分别用于接收所述测头基座(4)上反射面反射的激光束一(21)、激光束二(22);

平移部件,用于使所述测头基座(4)做直线运动,或用于使所述测头基座(4)与光电探测器共同做直线运动,以改变所述测头基座(4)反射面上的所述激光束一(21)、激光束二(22)的反射点位置;

回复部件(5),用于将所述测头基座(4)回复至初始位置,或将所述测头基座(4)与光电探测器(3)共同回复至初始位置;

处理系统,根据所述光电探测器一(31)、光电探测器二(32)上分别接收到的激光束一(21),激光束二(22)反射位置变化值,计算得到所述测球(7)的位移变化值。

2.根据权利要求1所述的新型光臂放大式二维线性测头,其特征在于,所述平移部件用于平移所述测头基座(4)。

3.根据权利要求2所述的新型光臂放大式二维线性测头,其特征在于,所述光电探测器一(31)、光电探测器二(32)的反射面相互垂直设置,所述平移部件用于将所述测头基座(4)沿相对所述光电探测器一(31)、光电探测器二(32)的垂直平面做运动。

4.根据权利要求3所述的新型光臂放大式二维线性测头,其特征在于,所述平移部件包括两个相互平行的导向槽一(81),所述导向槽一(81)之间滑动设有至少一个导向槽二(82),所述导向槽一(81)与导向槽二(82)相互垂直,所述导向槽二(82)上滑动连接所述测头基座(4)。

5.根据权利要求3所述的新型光臂放大式二维线性测头,其特征在于,还包括壳体(9),所述激光源一(11)、激光源二(12)固定在所述壳体(9)内,所述光电探测器一(31)、光电探测器二(32)连接在所述壳体内,所述回复部件(5)为弹簧或簧片,其中一端连接在所述壳体(9)上、另一端连接在所述测头基座(4)上。

6.根据权利要求5所述的新型光臂放大式二维线性测头,其特征在于,至少一个所述光电探测器旋转连接在所述壳体(9)上,每个所述光电探测器在位于对应所述激光束的入射光、反射光构成的平面上进行旋转。

7.根据权利要求1-6任一所述的一种新型光臂放大式二维线性测头,其特征在于,所述光电探测器一(31)、光电探测器二(32)为位置敏感探测器。

8.根据权利要求7所述的新型光臂放大式二维线性测头,其特征在于,所述光电探测器一(31)、光电探测器二(32)均为一维位置敏感探测器。

9.根据权利要求7所述的新型光臂放大式二维线性测头,其特征在于,所述测头基座(4)为梯形台体,所述测头基座(4)包括位于梯形台体侧面的两个反射面,即所述反射面一(41)、反射面二(42)。

10.根据权利要求7所述的新型光臂放大式二维线性测头,其特征在于,所述测头基座(4)的形状为长方体,该长方体可水平面上移动,该长方体沿竖直方向相互垂直的两个侧面上设置有反射面一(41)、反射面二(42),所述激光束一(21)、激光束二(22)分别倾斜入射到所述反射面一(41)、反射面二(42)上。

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