[实用新型]一种便于取样检测的二阶HDI板

说明书

技术领域

本实用新型涉及HDI板行业技术领域，特指一种便于取样检测的二阶HDI板。

背景技术

PCB板是提供电子零组件在安装与互连时的主要支撑，其依照电路设计，将连接电路零件的电气布线绘制成布线图形，并利用机械加工、表面处理等方式，在绝缘体上使电气导体重现。随着电子行业日新月异的变化，电子产品向着轻、薄、短、小型化发展，相应的PCB板也面临高精度、细线化、高密度的挑战。HDI板是指高密度互连板，是PCB行业发展起来的新技术。普通的PCB板的钻孔由于受到钻刀的影响，当钻孔孔径达到0.15mm时，成本已经很高了，且很难再次改进。而HDI板的钻孔不再依赖于传统的机械钻孔，而是利用激光钻孔技术。所以HDI板又被称为镭射板。

二阶HDI板是指在PCB板的单面或双面上积层两层HDI板称为二阶HDI板，它包含A类二阶HDI板和B类二阶HDI板。简单的一阶HDI板的叠加称为A类二阶HDI板；两张HDI板的测试盲孔相叠加称为二阶HDI板。为了保证HDI成品板的质量，对成品板的各种测试和检验是必不可少的，但是由于测试盲孔孔径较小，制造流程相对较长，相应的切片检查频率较大，每一次的切片都是在二阶HDI板的单元内取样，这样就增加了不必要的报废品，也就增加了制作成本。

故有必要对现有二阶HDI板的结构进行改善。

发明内容

本实用新型的目的在于针对现有技术的缺陷和不足，提供一种结构简单，设计合理、使用方便的便于取样检测的二阶HDI板。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：

本实用新型所述的一种便于取样检测的二阶HDI板，包括HDI板体，所述HDI板体设置有边框区和工艺区，工艺区设置在边框区围设的空腔中；所述边框区由两条短边框和两条长边框组成，所述短边框的中心位置均设置有测试盲孔，所述长边框的中心位置均设置有测试盲孔；所述工艺区的两条对角线相交的位置上设置有测试盲孔。

进一步地，所述工艺区的四个角上均设置有第二测试盲孔。

进一步地，所述第二测试盲孔的圆心均设置在对角线上。

采用上述结构后，本实用新型有益效果为：本实用新型所述的一种便于取样检测的二阶HDI板，包括HDI板体，所述HDI板体设置有边框区和工艺区，工艺区设置在边框区围设的空腔中；所述边框区由两条短边框和两条长边框组成，所述短边框的中心位置均设置有测试盲孔，所述长边框的中心位置均设置有测试盲孔；所述工艺区的两条对角线相交的位置上设置有测试盲孔。在使用本实用新型时，通过在短边框的中心位置均设置测试盲孔，通过在长边框的中心位置均设置测试盲孔；通过在工艺区的两条对角线相交的位置上设置测试盲孔；既可以达到符合测试盲孔检测标准要求的各项性能指标，又可减少二阶HDI板不必要的报废，降低了生产成本，提高生产效率。本实用新型具有结构简单，设置合理，制作成本低等优点。

附图说明

图1是本实用新型整体结构示意图。

附图标记说明：

1、HDI板体；1-1、边框区；1-1a、短边框；1-1b、长边框；

1-2、工艺区；2、测试盲孔；21、第二测试盲孔；L、对角线。

具体实施方式

下面结合附图与实施例对本实用新型的技术方案进行说明。

如图1所示，本实用新型所述的一种便于取样检测的二阶HDI板，包括HDI板体1，所述HDI板体1设置有边框区1-1和工艺区1-2，工艺区1-2设置在边框区1-1围设的空腔中；所述边框区1-1由两条短边框1-1a和两条长边框1-1b组成，所述短边框1-1a的中心位置均设置有测试盲孔2，所述长边框1-1b的中心位置均设置有测试盲孔2；所述工艺区1-2的两条对角线L相交的位置上设置有测试盲孔2。

作为本实用新型的一种优选方式，所述工艺区1-2的四个角上均设置有第二测试盲孔21，便于提供进一步地检测。

作为本实用新型的一种优选方式，所述第二测试盲孔21的圆心均设置在对角线L上，便于提高检测的精准度。

在使用本实用新型时，通过在短边框的中心位置均设置测试盲孔，通过在长边框的中心位置均设置测试盲孔；通过在工艺区的两条对角线相交的位置上设置测试盲孔；既可以达到符合测试盲孔检测标准要求的各项性能指标，又可减少二阶HDI板不必要的报废，降低了生产成本，提高生产效率。另外，该结构简单、设计合理，制造成本低。

以上为本实用新型较佳的实施方式，本实用新型所属领域的技术人员还能够对上述实施方式进行变更和修改。因此，本实用新型并不局限于上述的具体实施方式，凡是本领域技术人员在本实用新型的基础上所作的任何显而易见的改进、替换或变型均属于本实用新型的保护范围。