[实用新型]嵌入式VxWorks产品测试系统

权利要求书

1.一种嵌入式VxWorks产品测试系统，其特征在于，所述的系统包括外壳、设置于外壳内的VxWorks开发板以及设置于外壳内的PCIe载卡，所述的外壳上设置有散热风扇，所述的系统还包括PCIe连接器以及总线接口，所述的PCIe连接器以及所述的总线接口设置于所述的外壳上。

2.根据权利要求1所述的嵌入式VxWorks产品测试系统，其特征在于，所述的外壳包括第一长方体外壳以及高度小于第一长方体外壳的第二长方体外壳，所述的第二长方体外壳的第一侧贴合与所述的第一长方体外壳的第一侧，且所述的第一长方体外壳与所述的第二长方体外壳相贯通。

3.根据权利要求2所述的嵌入式VxWorks产品测试系统，其特征在于，所述的散热风扇包括前风扇和后风扇，所述的前风扇设置于所述的第一长方体外壳的第二侧，所述的后风扇设置于所述的第一长方体外壳的第一侧，所述的外壳的第一侧与所述的外壳的第二侧为相对的两侧。

4.根据权利要求2所述的嵌入式VxWorks产品测试系统，其特征在于，所述的PCIe载卡包括载卡A卡以及载卡B卡，所述的载卡B卡设置于所述的VxWorks开发板上，所述的载卡A卡设置于所述的第二长方体外壳的内侧面。

5.根据权利要求4所述的嵌入式VxWorks产品测试系统，其特征在于，所述的系统还包括FPGA仿真器，所述的FPGA仿真器设置于所述的载卡A卡的上方且位于所述的第一长方体外壳的内部。

6.根据权利要求4所述的嵌入式VxWorks产品测试系统，其特征在于，所述的第二长方体外壳的上表面设置有待测卡DUT，所述的待测卡DUT通过PCIe连接器与所述的载卡A卡相连接。

7.根据权利要求2所述的嵌入式VxWorks产品测试系统，其特征在于，所述的第二长方体外壳的上表面设置有电源开关以及电源指示灯。

8.根据权利要求2所述的嵌入式VxWorks产品测试系统，其特征在于，所述的第一长方体外壳的第二侧设置有直流电源输入接口、交流电源输入接口以及待测卡DUT外部电源选择开关。

9.根据权利要求2所述的嵌入式VxWorks产品测试系统，其特征在于，所述的第一长方体外壳的第二侧设置有以太网接口、串口以及FPGA仿真器USB接口。

10.根据权利要求2所述的嵌入式VxWorks产品测试系统，其特征在于，所述的第一长方体外壳的第二侧设置有FC光口。