[实用新型]集成电路的检测装置及检测设备

权利要求书

1.一种集成电路的检测装置，其特征在于，包括:

一承载座，安装有一探针台；

一夹掣定位机构，包含一下基座、一弹性体、一上基座及一对弹性夹臂，该下基座对应该探针台配置，该弹性体被弹性夹掣在该探针台和该下基座之间，该上基座叠接在该下基座上，并于该上基座设有一芯片容槽，该对弹性夹臂能够移动的配置在该芯片容槽内；

一盖板，固定在该承载座，该盖板在对应该芯片容槽的位置设有一开口，并在该对弹性夹臂和该盖板之间设有令该对弹性夹臂能够对所述集成电路夹掣固定的一滑动结构。

2.根据权利要求1所述的集成电路的检测装置，其特征在于，该探针台布设有多支弹性探针，该下基座包含一矩形板，于该矩形板开设有供各该弹性探针穿出的多个穿孔。

3.根据权利要求2所述的集成电路的检测装置，其特征在于，该下基座更包含从该矩形板的各角端分别向上延伸有一角柱，该弹性夹臂包含一T型移动块及一弹性顶针，该弹性顶针被弹性夹掣在该T型移动块和该角柱之间。

4.根据权利要求3所述的集成电路的检测装置，其特征在于，该T型移动块的底端形成有一V形槽，该T型移动块顶端设有供该弹性顶针插接的一插孔。

5.根据权利要求3所述的集成电路的检测装置，其特征在于，在该盖板的该开口对应角端分别延伸有一对凸柱，该对凸柱是对应于该T型移动块的两侧翼设置，该滑动结构包含形成在该T型移动块的一第一斜面及形成在该凸柱的一第二斜面，该第二斜面和该第一斜面的倾斜方向相反，且彼此相互滑接接触。

6.根据权利要求3所述的集成电路的检测装置，其特征在于，该上基座开设有连通该芯片容槽的一导引槽，该T型移动块安装在该导引槽内且能够操作性移动。

7.根据权利要求2所述的集成电路的检测装置，其特征在于，该下基座的该矩形板设有多个导引孔，该上基座连接有穿接各该导引孔的多个定位柱。

8.一种集成电路的检测设备，其特征在于，包括:

一承载座，安装有多个探针台；

多个夹掣定位机构，分别对应各该探针台装设，每一该夹掣定位机构包含一下基座、一弹性体、一上基座及一对弹性夹臂，该下基座对应该探针台配置，该弹性体被弹性夹掣在该探针台和该下基座之间，该上基座叠接在该下基座上，并于该上基座设有一芯片容槽，该对弹性夹臂能够移动的配置在该芯片容槽内；

一盖板，固定在该承载座，该盖板在对应各该芯片容槽的位置分别设有一开口，并在各该弹性夹臂和该盖板之间设有令各该弹性夹臂能够分别对所述各集成电路夹掣固定的一滑动结构。

9.根据权利要求8所述的集成电路的检测设备，其特征在于，该探针台布设有多支弹性探针，该下基座包含一矩形板，于该矩形板开设有供各该弹性探针穿出的多个穿孔。

10.根据权利要求9所述的集成电路的检测设备，其特征在于，该下基座更包含从该矩形板的各角端分别向上延伸有一角柱，该弹性夹臂包含一T型移动块及一弹性顶针，该弹性顶针被弹性夹掣在该T型移动块和该角柱之间。

11.根据权利要求10所述的集成电路的检测设备，其特征在于，该T型移动块的底端形成有一V形槽，该T型移动块顶端设有供该弹性顶针插接的一插孔。

12.根据权利要求10所述的集成电路的检测设备，其特征在于，在该盖板的该开口对应角端分别延伸有一对凸柱，该对凸柱是对应于该T型移动块的两侧翼设置，该滑动结构包含形成在该T型移动块的一第一斜面及形成在该凸柱的一第二斜面，该第二斜面和该第一斜面的倾斜方向相反，且彼此相互滑接接触。

13.根据权利要求10所述的集成电路的检测设备，其特征在于，该上基座开设有连通该芯片容槽的一导引槽，该T型移动块安装在该导引槽内且能够操作性移动。

14.根据权利要求9所述的集成电路的检测设备，其特征在于，该下基座的该矩形板设有多个导引孔，该上基座连接有穿接各该导引孔的多个定位柱。