[实用新型]测试分选机的吸嘴结构

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种吸嘴，具体涉及一种测试分选机的吸嘴结构。

背景技术

本实用新型所述的测试分选机是用来分选合格和不合格的电子器件的，所述测试分选机的吸嘴结构，是通过紧固螺钉与测试分选机的夹持件相配装，且吸嘴结构与真空气源相通。

在测试时，将测试分选机与用来测试电子器件电性能的测试设备电连接，然后吸嘴结构是利用真空负压将电子器件吸附住，再由测试设备测试电子器件的电性能是否合格，若是测试合格，吸嘴结构将合格的电子器件放置在合格区域，反之，若是测试不合格，吸嘴结构将不合格的电子器件放置在不合格区域。

已有技术中的吸嘴结构包括互为一体的吸嘴杆和吸嘴头，且吸嘴头呈细长状，为了增加吸嘴结构的耐磨性，采用的是耐磨材料，材质较脆；又因为测试的电子器件规格较小，这样，吸嘴头在卡料或受力时就会经常容易发生断裂的情况，一旦吸嘴头断裂后需更换整个吸嘴结构，由于吸嘴结构的造价较高，更换时间较长，从而较难控制测试成本，以及难于提高生产效率。

发明内容

本实用新型的目的是：提供一种分体式结构，且便于维护和更换的测试分选机的吸嘴结构，以克服现有技术的不足。

为了达到上述目的，本实用新型的技术方案是：一种测试分选机的吸嘴结构，包括吸嘴杆和吸嘴头，所述吸嘴杆沿其中心线方向有第一真空流道，所述吸嘴头沿其中心线方向有第二真空流道；其创新点在于：还包括连接座，所述连接座具有螺纹段和沿其中心线方向有第三真空流道，所述吸嘴杆下端与连接座的螺纹段螺纹连接，而吸嘴头与连接座固定连接，所述第一真空流道、第二真空流道和第三真空流道相连通。

在上述技术方案中，所述第二真空流道包括相连通的直形通孔和锥形通孔，且第三真空流道与直形通孔相连通。

在上述技术方案中，所述第一真空流道、第二真空流道和第三真空流道三者的中心线在同一条直线上。

在上述技术方案中，所述连接座还具有与螺纹段互为一体的直形段，且吸嘴头与直形段焊接连接。

在上述技术方案中，所述吸嘴杆、吸嘴头和连接座均是呈圆柱状体，且吸嘴杆杆体的直径大于连接座的直形段的直径，而连接座的直形段的直径大于吸嘴头的直径。

本实用新型所具有的积极效果是：采用本实用新型的吸嘴结构后，由于本实用新型还包括连接座，所述吸嘴杆与连接座的螺纹段螺纹连接，而吸嘴头与连接座固定连接，使得吸嘴杆与吸嘴头是分体式结构，因此，能够提高吸嘴头的承受力，降低其断裂的频率和次数，一旦吸嘴头发生断裂，只需更换连接座和吸嘴头即可，不仅能够降低电子器件的测试成本，而且降低设备维修时间，更换时也省时省力，实现了本实用新型的目的。

附图说明

图1是本实用新型一种具体实施方式的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图以及给出的实施例，对本实用新型作进一步的说明，但并不局限于此。

如图1所示，一种测试分选机的吸嘴结构，包括吸嘴杆1和吸嘴头2，所述吸嘴杆1沿其中心线方向有第一真空流道1-1，所述吸嘴头2沿其中心线方向有第二真空流道2-1；还包括连接座，所述连接座3具有螺纹段3-1和沿其中心线方向有第三真空流道3-2，所述吸嘴杆1下端与连接座3的螺纹段3-1螺纹连接，而吸嘴头2与连接座3固定连接，所述第一真空流道1-1、第二真空流道2-1和第三真空流道3-2相连通。

如图1所示，为了使得吸嘴头2能够吸附电子器件，且不会因真空压力对电子器件造成损伤，所述第二真空流道2-1包括相连通的直形通孔2-1-1和锥形通孔2-1-2，且第三真空流道3-2与直形通孔2-1-1相连通。

如图1所示，为了使得本实用新型结构更加紧凑、合理，以及便于吸附电子器件，所述第一真空流道1-1、第二真空流道2-1和第三真空流道3-2三者的中心线在同一条直线上。

如图1所示，为了进一步提高本实用新型结构更加紧凑、合理，所述连接座3还具有与螺纹段3-1互为一体的直形段3-3，且吸嘴头2与直形段3-3焊接连接。

如图1所示，为了进一步提高吸嘴头受力的韧性减小，使得吸嘴头的使用寿命长，所述吸嘴杆1、吸嘴头2和连接座3均是呈圆柱状体，且吸嘴杆1杆体的直径大于连接座3的直形段3-3的直径，而连接座3的直形段3-3的直径大于吸嘴头2的直径。

本实用新型使用时，将所述的吸嘴杆1通过紧固螺钉与测试分选机的夹持件相配装，且吸嘴杆1与真空气源相通。