[实用新型]一种断短路两端式真空吸引测试机构

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试治具的测试机构，具体涉及一种断短路两端式真空吸引测试机构。

背景技术

目前，传统的测试方法是使用测试探针，但其具有：1)测试点压伤的疑虑；2)治具成本过高的问题；3)遇到细线路无法测试或对位困难，需要用导电胶作两段测试，工作效率较低。

实用新型内容

为解决上述技术问题，我们提出了一种可克服以上问题且成本较低的断短路两端式真空吸引测试机构。

为达到上述目的，本实用新型的技术方案如下：

一种断短路两端式真空吸引测试机构，其包括测试基座，所述测试基座的上表面上设有方形的第一测试区、与第一测试区中其一边缘相抵靠的条形第二测试区、设于所述第一测试区和第二测试区上表面上的待测板、与所述待测板相邻设置且均匀设于所述第一测试区上表面上的若干个数据传输端子和设于所述第二测试区下方的气缸，所述气缸拖动第二测试区上下运动，所述第一测试区包括第一真空吸气室和设于第一真空吸气室顶端上的pcb板或柔性线路板，所述第二测试区包括第二真空吸气室和设于第二真空吸气室顶端上的金属或非金属板，所述pcb板或柔性线路板的周边和金属或非金属板上均开设有均匀的若干通孔，所述待测板上且位于所述第二测试区上方设有条形的待测物细出pin端子，所述待测板和pcb板或柔性线路板上均设有相同的测试点，且与所述待测物细出pin端子物理性连接。

优选的，所述待测板为柔性线路板或触控面板或血糖裸片。

优选的，所述测试点为金点、银点、铜点、炭点或者非金属导体。

优选的，还包括与所述第一测试区的其他三个边缘相邻设置的待测板对位装置，所述对位装置包括设于第一测试区两边且与第二测试区相互垂直的垂直滑行轨道和设于所述垂直滑行轨道上的水平滑行轨道，所述水平滑行轨道上还均匀安装有两个CCD或电子显微镜，且所述CCD或电子显微镜可左右移动。

优选的，所述第二待测区为金属或非金属全短路区。

通过上述技术方案，本实用新型的断短路两端式真空吸引测试机构，测试点以软性银浆或pcb电路板铜点做为接触点，平面对平面无压伤问题，而且分两段式真空吸引方式可测一般点对点接触测试，也可测细线路全短路量测断路及阻值量测，具有测试速度快，细线路无对位上困扰，而且测试治具成本较传统探针式低。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例1所公开的一种断短路两端式真空吸引测试机构的结构示意图；

图2为本实用新型实施例1所公开的一种断短路两端式真空吸引测试机构中第一测试区的分解示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

下面结合示意图对本实用新型的具体实施方式作进一步详细的说明。

实施例1.

如图1、图2所示，一种断短路两端式真空吸引测试机构，其包括测试基座1，所述测试基座1的上表面上设有方形的第一测试区、与第一测试区中其一边缘相抵靠的条形第二测试区、设于所述第一测试区和第二测试区上表面上的待测板2、与所述待测板2相邻设置且均匀设于所述第一测试区上表面上的若干个数据传输端子3和设于所述第二测试区下方的气缸4，所述气缸4拖动第二测试区上下运动，达到测试断短路，阻抗的测试要求，数据传输端子3与测试机相配合，所述第一测试区包括第一真空吸气室5和设于第一真空吸气室5顶端上的pcb板或柔性线路板6，所述第二测试区包括第二真空吸气室7和设于第二真空吸气室7顶端上的金属或非金属板8，所述pcb板或柔性线路板6的周边和金属或非金属板8上均开设有均匀的若干通孔a，所述待测板2上且位于所述第二测试区上方设有条形的待测物细出pin端子9，所述待测板2和pcb板或柔性线路板6上均设有相同的测试点b，且与所述待测物细出pin端子9物理性连接。该断短路两端式真空吸引测试机构，可测一般点对点接触测试，也可测细线路全短路量测断路及阻值量测。