[实用新型]一种微电子过温过流保护元件有效
申请号: | 201520489066.1 | 申请日: | 2015-07-08 |
公开(公告)号: | CN204720961U | 公开(公告)日: | 2015-10-21 |
发明(设计)人: | 侯李明;付云鹏 | 申请(专利权)人: | 上海神沃电子有限公司 |
主分类号: | H02H5/04 | 分类号: | H02H5/04;H02H3/087 |
代理公司: | 上海百一领御专利代理事务所(普通合伙) 31243 | 代理人: | 陈贞健 |
地址: | 201108 上海市闵*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 微电子 保护 元件 | ||
1.一种微电子过温过流保护元件,其特征在于:包括MOS管和温度采样支路,所述MOS管与被保护器件串联,所述温度采样支路与所述MOS管、被保护器件相并联,且所述MOS管与所述温度采样支路相连接。
2.根据权利要求1所述的一种微电子过温过流保护元件,其特征在于:所述温度采样支路包括限温电阻和感温元件,所述限温电阻与所述感温元件相互串联,且所述MOS管的栅极连接于所述限温电阻、感温元件之间或所述限温电阻上。
3.根据权利要求2所述的一种微电子过温过流保护元件,其特征在于:所述感温元件为跳变二极管。
4.根据权利要求2所述的一种微电子过温过流保护元件,其特征在于:所述感温元件为测温二极管。
5.根据权利要求1-4中任意一项所述的一种微电子过温过流保护元件,其特征在于:所述MOS管为N沟道增强型场效应晶体管、N沟道耗尽型场效应晶体管、P沟道增强型场效应晶体管、P沟道耗尽型场效应晶体管中的任一种。
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