[实用新型]一种鼓型磁瓦对称度检测工装

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种磁瓦检测工装，具体涉及一种鼓型磁瓦对称度检测工装。

背景技术

目前，磁瓦对称度的检测方法主要有划线检测法和目测法，划线检测法操作繁琐，生产成本高，不利于大批量生产检测；目测法误差大，不能精确检测磁瓦对称度值。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是，克服上述背景技术的不足，提供一种结构简单，操作方便，检测效率高，成本低，检测精度高的鼓型磁瓦对称度检测工装。

本实用新型解决其技术问题采用的技术方案是，一种鼓型磁瓦对称度检测工装，包括检测工装本体，所述检测工装本体的上表面设有凹型缺口，所述凹型缺口的底部表面呈向下凹陷的圆弧面，所述检测工装本体的下表面设有圆弧形缺口，所述圆弧形缺口的表面呈向上凹陷的圆弧面。

进一步，所述凹型缺口两侧的高度为2～5cm。

与现有技术相比，本实用新型的优点如下：

本实用新型结构简单，利用本实用新型检测鼓型磁瓦对称度时，操作方便，检测效率高，成本低，检测精度高。

附图说明

图1是本实用新型实施例的结构示意图。

图2是利用图1所示实施例工装检测鼓型磁瓦对称度的示意图。

图中：1—检测工装本体，2—凹型缺口，3—圆弧形缺口，4—鼓型磁瓦。

具体实施方式

下面结合附图及具体实施例对本实用新型作进一步详细描述。

参照图1，本实施例包括检测工装本体1，检测工装本体1的上表面设有凹型缺口2，凹型缺口2两侧的高度为3cm，凹型缺口2的底部表面呈向下凹陷的圆弧面，检测工装本体1的下表面设有圆弧形缺口3，圆弧形缺口3的表面呈向上凹陷的圆弧面。

参照图2，使用时，将被检测的鼓型磁瓦4放置在检测工装本体1的凹型缺口2内，鼓型磁瓦4朝下的圆弧面与凹型缺口2的圆弧面贴合，鼓型磁瓦4朝下的圆弧面与凹型缺口2的圆弧面的圆弧半径相同，鼓型磁瓦4朝上的圆弧面与圆弧形缺口3的圆弧面的圆弧半径相同。利用千分尺测量鼓型磁瓦4上表面各个点与圆弧形缺口3的圆弧面的垂直距离，鼓型磁瓦4上表面左右两侧相对称的两个点与圆弧形缺口3的圆弧面的垂直距离的差值，为磁瓦对称度差值，若磁瓦对称度差值为零，则磁瓦左右对称。

本领域的技术人员可以对本实用新型实施例进行各种修改和变型，倘若这些修改和变型在本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则这些修改和变型也在本实用新型的保护范围之内。

说明书中未详细描述的内容为本领域技术人员公知的现有技术。