[实用新型]温升测试支架

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试支架，尤其涉及一种温升测试支架。

背景技术

随着电子技术的不断高速发展，手机等电子设备的重量越来越轻，体积也越来越纤薄，这使得电子设备内部的结构更为紧密，功率密度明显提高，运行中所产生的热量也更难以排出。热量积累会使得电子设备内部温度不断升高，大大影响了用户的使用体验，同时过高的温度也可能致使CPU等处理器元件自主降频从而使设备运行速度大受影响。因此，优秀的散热方案对手机等电子设备的使用体验至关重要。

为了测试对比得到优秀的散热方案，需要不断的测试各种方案时的实际温升数据。而温升测试数据的准确性，对判断和选择最优秀的散热方案尤为重要。

传统的测试方法中，手机等被测物品被平放在支撑物体上，当需要测试两面的温度数据时不得不手动将被测物品翻转，这个过程中手指的接触和翻动时的气流都对测试结果有一定的影响。同时支撑物体支撑的是被测物品正反面其中一面，这样导致正反两面与环境的热量交换环境不一致，使得测试数据可靠性大大降低。另一方面，传统的测试方法中需要双手把握稳定热像仪以截取热图像，而双手握持易抖动，每次与被测物品的距离也很不稳定，这也影响到了测试数据的准确性。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于，提供一种改进的温升测试支架。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种温升测试支架，包括供电子设备立置其中的第一支撑单元；所述第一支撑单元包括前后通透的框体、以及至少一个设置在所述框体内的用于定位所述电子设备的定位部，所述定位部贯通所述框体的前后两侧。

优选地，所述第一支撑单元还包括设置在所述框体相对两侧板并向所述框体内延伸的的第一定位件、至少一个靠近所述框体的底板横向设置在所述框体内的第二定位件、以及至少一个竖直设置在所述框体的底板和顶板之间的第三定位件；

所述第一定位件、第二定位件和第三定位件相围接，所述定位部形成在所述第一定位件、第二定位件和第三定位件之间。

优选地，所述定位部的内周设有与所述电子设备接触以固定所述电子设备的锯齿结构；

所述锯齿结构凸出形成在所述第一定位件、第二定位件和第三定位件上。

优选地，所述框体的相对两侧板设有第一插孔，所述第一定位件插设在所述第一插孔内；

所述框体的相对两侧板设有第二插孔，所述第二定位件的两端分别定位在两个所述第二插孔内；

所述框体的顶板设有第三插孔，所述第三定位件自所述第三插孔插入所述框体内。

优选地，所述框体的底板对应所述第三定位件设有定位孔；所述第三定位件的上端配合在所述第三插孔内，下端配合在所述定位孔内。

优选地，所述第一定位件的底部配合在所述框体的底板上，所述底板还设有引导并定位所述第一定位件的导槽；

所述第二定位件对应所述第三定位件设有穿接部，所述第三定位件穿过所述穿接部竖直在所述框体内。

优选地，所述框体包括所述底板、所述顶板以及连接在所述底板和顶板之间的两个所述侧板，所述底板、顶板和侧板相连接形成一框架；

所述框体还包括两个固定框，两个所述固定框分别配合在所述框架的前后两侧上。

优选地，该温升测试支架还包括用于放置热像仪的第二支撑单元；所述第二支撑单元与所述第一支撑单元相对设置，使得所述热像仪对准所述电子设备以进行温升测试。

优选地，所述第二支撑单元包括底座、竖直设置在所述底板上的支撑杆、供所述热像仪定位其上的定位支架，所述定位支架沿所述支撑杆长度方向可移动地安装在所述支撑杆上。

优选地，所述第二支撑单元还包括平行所述第一支撑单元的滑轨；所述底座可滑动地配合在所述滑轨上。

本实用新型的温升测试支架，通过设置第一支撑单元供至少一个电子设备立置其中以进行温升测试，不需翻转电子设备即可对电子设备的正反两面进行温升测试，避免接触、翻动电子设备时的气流影响测试，保证测试所得数据的准确性。

另外，通过锯齿结构与电子设备的接触固定电子设备，减少第一支撑单元与电子设备的接触面积，进一步保证测试的准确性；通过设置第二支撑单元，用于热像仪的放置，避免因手持热像仪易抖动对测试准确性的影响。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明，附图中：

图1是本实用新型一实施例的温升测试支架的第一支撑单元的结构示意图；

图2是图1所示的第一支撑单元的分解结构示意图。

具体实施方式