[实用新型]一种应用于键盘测试装置的按键敲击头

说明书

技术领域

本实用新型涉及键盘测试装置技术领域，尤其涉及一种应用于键盘测试装置的按键敲击头。

背景技术

作为主要的输入结构，按键被广泛地应用于计算机键盘、手机以及计算器等电子产品中；对于上述计算机键盘、手机以及计算器等电子产品而言，工作时必须敲打按键以使得按键触点导通断开，从而将字母、数字、标点符号等输入到相应的计算机、手机或者计算器中。

在键盘（包括有计算机键盘、手机键盘以及计算器键盘等）生产过程中，出产前必须对键盘成品进行质量检测时，即需要对每一个按键进行击打，以测试其回弹和触点的通断。现有技术中存在形式各样的键盘测试装置；其中，对于键盘测试装置而言，其主要通过按键敲击头来完成待测试键盘的按键击打动作。

然而，对于现有的按键敲击头而言，其普遍存在回位速度慢的缺陷，这会严重地影响键盘测试装置的工作效率。

发明内容

本实用新型的目的在于针对现有技术的不足而提供一种应用于键盘测试装置的按键敲击头，该应用于键盘测试装置的按键敲击头结构设计新颖、回位速度快且可有效地提高键盘测试装置的工作效率。

为达到上述目的，本实用新型通过以下技术方案来实现。

    一种应用于键盘测试装置的按键敲击头，包括有内部安装线圈绕组且呈圆柱体状的敲击头外壳，敲击头外壳的芯部开设有沿着敲击头外壳的轴线方向上下完全贯穿的活动轴孔，敲击头外壳的活动轴孔内可相对上下活动地嵌装有活动轴，活动轴的上端部延伸至敲击头外壳的上端侧，活动轴的下端部延伸至敲击头外壳的下端侧；

     活动轴包括有同轴布置的上磁性段以及位于上磁性段下端侧的下非磁性段，下非磁性段的上端部与上磁性段的下端部连接，活动轴的下非磁性段下端部于敲击头外壳的下端侧装设有敲击触头，活动轴的上磁性段上端部于敲击头外壳的上端侧套卡有胶头，活动轴的上磁性段上端部于胶头、敲击头外壳之间套装有复位弹簧，复位弹簧的上端部、下端部分别与相应侧的胶头、敲击头外壳上端部抵接。

其中，所述敲击头外壳的活动轴孔上端部对应所述活动轴的上磁性段嵌卡有上导向套筒，活动轴的上磁性段可相对上下活动地嵌装于上导向套管的中心孔内。

其中，所述敲击头外壳的活动轴孔下端部对应所述活动轴的下非磁性段嵌卡有下导向套筒，活动轴的下非磁性段可相对上下活动地嵌装于下导向套管的中心孔内。

其中，所述敲击头外壳的外径值为10mm-18mm。

本实用新型的有益效果为：本实用新型所述的一种应用于键盘测试装置的按键敲击头，其包括内部安装线圈绕组的敲击头外壳，敲击头外壳芯部开设活动轴孔，活动轴孔内嵌装活动轴，活动轴上端部延伸至敲击头外壳上端侧，活动轴下端部延伸至敲击头外壳下端侧；活动轴包括同轴布置的上磁性段、下非磁性段，下非磁性段下端部于敲击头外壳下端侧装设敲击触头，上磁性段上端部于敲击头外壳上端侧套卡胶头，上磁性段上端部于胶头、敲击头外壳之间套装复位弹簧，复位弹簧的上端部、下端部分别与相应侧的胶头、敲击头外壳上端部抵接。通过上述结构设计，本实用新型具有结构设计新颖、回位速度快且可有效地提高键盘测试装置的工作效率的优点。

附图说明

下面利用附图来对本实用新型进行进一步的说明，但是附图中的实施例不构成对本实用新型的任何限制。

图1为本实用新型的结构示意图。

图2为本实用新型的分解示意图。

图3为本实用新型的剖面示意图。

在图1至图3中包括有：

1——敲击头外壳        11——活动轴孔

2——活动轴            21——上磁性段

22——下非磁性段       3——敲击触头

4——胶头              5——复位弹簧

6——上导向套筒        7——下导向套筒。

具体实施方式

下面结合具体的实施方式来对本实用新型进行说明。

如图1至图3所示，一种应用于键盘测试装置的按键敲击头，包括有内部安装线圈绕组且呈圆柱体状的敲击头外壳1，敲击头外壳1的芯部开设有沿着敲击头外壳1的轴线方向上下完全贯穿的活动轴孔11，敲击头外壳1的活动轴孔11内可相对上下活动地嵌装有活动轴2，活动轴2的上端部延伸至敲击头外壳1的上端侧，活动轴2的下端部延伸至敲击头外壳1的下端侧。