[发明专利]提高超外差式频谱分析仪频率测量精度的电路结构及方法

权利要求书

1.一种提高超外差式频谱分析仪频率测量精度的电路结构，所述的电路结构包括时钟同步时序控制器和被测信号依次输入的求模电路、比较器、保持器和第一存储器，所述的时钟同步时序控制器输入扫描子进程时钟和扫描进程时钟，所述的时钟同步时序控制器输出时钟信号至所述的比较器、保持器和第一存储器，所述的扫描子进程时钟输入所述的求模电路，其特征在于，所述的时钟同步时序控制器还输入高速精密时钟，所述的电路结构还包括依次相连接的精密延时电路、计数器、计数保持器和第二存储器，所述的高速精密时钟和扫描子进程时钟还输入所述的精密延时电路，所述的保持器的输出端与所述的计数保持器相连接。

2.一种基于权利要求1所述的电路结构提高超外差式频谱分析仪频率测量精度的方法，其特征在于，所述的方法包括以下步骤：

(1)确定扫描进程时钟和扫描子进程时钟；

(2)将被测信号输入所述的求模电路、将所述的扫描进程时钟输入所述的时钟同步时序控制器并将所述的扫描子进程时钟输入所述的时钟同步时序控制器、求模电路和精密延时电路；

(3)根据所述的提高超外差式频谱分析仪频率测量精度的电路结构测量结果得到被测信号的测量频率。

3.根据权利要求2所述的提高超外差式频谱分析仪频率测量精度的方法，其特征在于，所述的确定扫描进程时钟和扫描子进程时钟，包括以下步骤：

(1-1)确定扫描进程个数并确定每个扫描进程下的扫描子进程个数；

(1-2)根据所述的扫描进程个数和扫描子进程个数确定扫描进程时钟和扫描子进程时钟。

4.根据权利要求3所述的提高超外差式频谱分析仪频率测量精度的方法，其特征在于，所述的确定扫描进程个数，具体为：

根据频谱分析仪屏幕上显示的测量点的个数确定扫描进程个数。

5.根据权利要求4所述的提高超外差式频谱分析仪频率测量精度的方法，其特征在于，所述的确定每个扫描进程下的扫描子进程个数，具体为：

根据如下公式确定每个扫描进程下的扫描子进程个数：

其中，Span是扫描宽度，P_Sweep是扫描点数，RBW是分辨率带宽，P_SBuc是每个测量点下的测量个数，K_n是测量系数，取10～20。

6.根据权利要求5所述的提高超外差式频谱分析仪频率测量精度的方法，其特征在于，所述的根据所述的提高超外差式频谱分析仪频率测量精度的电路结构测量结果得到被测信号的测量频率，具体为：

根据所述的提高超外差式频谱分析仪频率测量精度的电路结构测量结果和如下公式计算得到被测信号的测量频率：

其中f_start是扫描起始频率值；n是被测信号的序列号，与扫描点数一一对应；k_i是存储的SBuc序列中对应的值。