[发明专利]一种测定ReBCO高温超导薄膜组成的方法

权利要求书

1.一种测定ReBCO高温超导薄膜组成的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、样品制备：提供基带，在基带上依次形成缓冲层及高温超导薄膜，之后溶解，得到样品溶液；

S2、测定参数设定：采用MP-AES微波等离子体-原子发射光谱仪进行测定，新建一个工作表，设定MP-AES微波等离子体-原子发射光谱仪的各项参数；

S3、测定溶液输入：采用手动或自动进样方式，采用空白溶液、标准溶液、实验室控制样品溶液和样品溶液依次测定的顺序；

S4、测定：MP-AES微波等离子体-原子发射光谱仪逐个读取溶液中各金属元素在相应检测波长下的浓度或百分含量，工作表依据标准溶液的浓度与相应的强度作出线性方程，根据线性方程得到待测溶液中各金属元素的浓度；

S5、测定结果分析。

2.如权利要求1所述的一种测定高温超导薄膜组成的方法，其特征在于：所述ReBCO高温超导薄膜，其中Re为钇或其他稀土元素。

3.如权利要求1所述的一种测定高温超导薄膜组成的方法，其特征在于：所述高温超导薄膜ReBCO沉积在缓冲层薄膜材料上，而缓冲层材料为金属氧化物，采用脉冲激光沉积法、磁控溅射法或真空蒸发法沉积在基带上。

4.如权利要求1所述的一种测定高温超导薄膜组成的方法，其特征在于：所述基带为金属材料基带，选用哈氏C-276合金带或不锈钢带。

5.如权利要求1所述的一种测定高温超导薄膜组成的方法，其特征在于：所述步骤S1中，在形成高温超导薄膜后，再采用溅射或真空蒸发法形成银保护层，之后采用电镀或锡焊制备铜稳定层。

6.如权利要求1所述的一种测定高温超导薄膜组成的方法，其特征在于：所述MP-AES微波等离子体-原子发射光谱仪包括进样系统、原子化系统、Czerny-Tumer型单色仪及背照式帕尔帖制冷CCD检测器。

7.如权利要求1所述的一种测定高温超导薄膜组成的方法，其特征在于：所述步骤S2中的参数包括样品导入方式、泵速、抽吸时间、稳定时间、读取时间、重复次数、背景校正方式、发射波长选择及雾化器压力。

8.如权利要求1所述的一种测定高温超导薄膜组成的方法，其特征在于：所述步骤S4中，工作表依据标准溶液的浓度与相应的强度作出线性方程，如果校正相关系数＞0.999，则工作表会自动给出一个线性方程，否则就删除某个异常点，以保证线性方程的准确性，若偏离依然较大，则重新配制标准溶液，完成新的工作表。

9.如权利要求1所述的一种测定高温超导薄膜组成的方法，其特征在于：所述实验室控制样品溶液，以高纯氧化钇、高纯氧化钆、高纯硝酸铜晶体与氯化钡晶体为原料，依据高温超导薄膜中的元素组分比，预先配制成储备液，再稀释至所需浓度。

10.如权利要求1所述的一种测定高温超导薄膜组成的方法，其特征在于：若在测定实验室控制样品时，数据出现严重偏离，则重新测定标准溶液或重新配置标准溶液。